[实用新型]一种芯片引脚的可靠性实验测试仪

说明书

本实用新型涉及电子芯片性能检测的技术领域，具体涉及一种芯片引脚的可靠性实验测试仪，包括箱体，设置于箱体内的支架、温度监测装置、为引脚供电的测电装置及为引脚施加拉力的施重组件；所述支架上设置有用于夹紧芯片的锁紧组件，所述箱体的一侧设置有箱门，所述箱体侧壁的下部设置有热风的进风管、上部设置有出风管；实现了对引脚在不同温度、不同拉力作用下的导电稳定性检测，从而可以判断引脚的质量，降低芯片的废品率。

技术领域

本实用新型涉及电子芯片性能检测的技术领域，具体涉及一种芯片引脚的可靠性实验测试仪。

背景技术

引脚，又叫管脚，英文叫Pin，是从集成电路（芯片）内部电路引出与外围电路的接线，所有的引脚就构成了这块芯片的接口。引线末端的一段，通过软钎焊使这一段与印制板上的焊盘共同形成焊点。作为芯片的接口，引脚的导电稳定性对芯片的正常使用起到了至关重要的作用。但是，目前尚未有对引脚的导电稳定性进行测量的装置或仪器。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种芯片引脚的可靠性实验测试仪，实现了对引脚在不同温度、不同拉力作用下的导电稳定性检测，从而可以判断引脚的质量。

本实用新型的目的通过以下技术方案来实现：

一种芯片引脚的可靠性实验测试仪，包括箱体，设置于箱体内的支架、温度监测装置、为引脚供电的测电装置及为引脚施加拉力的施重组件；所述支架上设置有用于夹紧芯片的锁紧组件，所述箱体的一侧设置有箱门，所述箱体侧壁的下部设置有热风的进风管、上部设置有出风管。

通过采用上述技术方案，将芯片放在支架上悬空，通过锁紧组件将芯片锁紧固定，通过进风管向箱体内通入热风，通过温度监测装置实时监测箱体内的温度，配合进风管的热风使箱体内的温度保持在待测温度；通过测电装置对待测引脚与公共引脚通电，进行导电性测量；通过施重组件对引脚施加拉力，测量引脚在一定的拉力下的导电稳定性，从而实现对芯片引脚不同环境下的导电稳定性测量，实现了对引脚质量的判断，避免废品芯片的产生。

作为优选，所述施重组件包括多个砝码和夹子，所述砝码的顶端设置有挂环，所述夹子远离夹持侧的一端连接有挂钩。

通过采用上述技术方案，砝码挂在挂钩上，夹子夹在引脚底端，通过砝码质量的选取，可以实现引脚在不同拉力下的导电稳定性。

作为优选，所述箱体内设置有多根挂杆，所述砝码与夹子分别挂在挂杆上。

通过采用上述技术方案，即方便使用，又不易使砝码与夹子丢失，实用性强。

作为优选，所述支架包括台面和支腿，所述台面的宽度不大于芯片的宽度，所述台面上设置有至少两组锁紧组件。

作为优选，所述锁紧组件包括固定设置于台面上的固定轴和压片，所述压片的一端转动连接在固定轴上、另一端可转动至芯片上方将芯片压住。

通过采用上述技术方案，压片用于将芯片压紧固定，防止施加砝码后压片从台面上掉落而影响测量。

作为优选，所述箱体顶面可拆卸的嵌设有数显计时器，所述数显计时器的操作面朝上设置。

通过采用上述技术方案，在测量过程中，通过数显计时器进行计时，测量出芯片的导电时长。

作为优选，所述测电装置包括测电箱和自测电箱伸出的两个导电环，所述导电环与测电箱之间通过导线电连接，所述导电环可匹配套在芯片引脚上。

通过采用上述技术方案，两个导电环分别套在两个引脚上，即可将电路导通并进行引脚的导电性检测，简单实用。

作为优选，所述箱体为透明的箱体。

通过采用上述技术方案，透明的箱体，便于实时观察箱体内的温度，砝码状态以及芯片的导电显示状态，便于断路后及时按下计时器。