[实用新型]超低频介质损耗测试系统

权利要求书

1.超低频介质损耗测试系统，包括测试电路(1)、升压电路(2)、相位差提取与测量系统(3)、主控单元(4)和介质电桥(5)，其特征在于：所述测试电路(1)的输出端设置有升压电路(2)，所述升压电路(2)由电流信号放大与处理电路与电压信号放大与处理电路组成，且升压电路(2)的输出端电性连接相位差提取与测量系统(3)，所述相位差提取与测量系统(3)与升压电路(2)之间设置有介质电桥(5)，所述介质电桥(5)包括电路检测单元(51)、数字屏蔽单元(52)、信号调节单元(53)和A/D采集单元(54)，所述电路检测单元(51)作用是检测试品的绝缘情况及各项参数，所述信号调节单元(53)用于调节电信号的强度，从而得出不同信号强度下的数据，所述A/D采集单元(54)作用是采集相应的电信号，然后传输到主控单元(4)，所述相位差提取与测量系统(3)的输出端连接主控单元(4)，所述主控单元(4)包括显示模块(41)、CPU控制模块(42)、通讯模块(43)和打印模块(44)，所述显示模块(41)与显示器电性连接，所述显示模块(41)用于将试验数据通过显示器显示出来，所述通讯模块(43)与CPU控制模块(42)连接，所述通讯模块(43)作用是将检测数据通过电信号的形式传输到计算机，便于分析与处理。

2.根据权利要求1所述的超低频介质损耗测试系统，其特征在于：所述测试电路(1)由测试电源和三个电阻组成，两个所述电阻之间串联，另外一个所述电阻与测试电容连接，所述测试电容和两个串联电阻之间并联。

3.根据权利要求1所述的超低频介质损耗测试系统，其特征在于：所述CPU控制模块(42)与相位差提取与测量系统(3)的输出端信号连接。

4.根据权利要求1所述的超低频介质损耗测试系统，其特征在于：所述数字屏蔽单元(52)的输入端电性连接测试电路(1)。

5.根据权利要求1所述的超低频介质损耗测试系统，其特征在于：所述显示模块(41)为LCD液晶显示屏设置。