[实用新型]超低频介质损耗测试系统

说明书

本实用新型公开了超低频介质损耗测试系统，包括测试电路、升压电路、相位差提取与测量系统、主控单元、介质电桥、电路检测单元、数字屏蔽单元、信号调节单元、A/D采集单元、显示模块、CPU控制模块、通讯模块和打印模块，此介质损耗测试系统在介质损耗角正切测试过零时间差原理的基础上，针对超低频电源频率低的特点，通过测试电路设置的测量系统及电阻，使得测量的精度得到了提高，有效地消除了用电阻采样电流时所带来的误差，数字屏蔽通讯单元作用是通过数字屏蔽电缆传输信号，具有很强的抗电磁干扰能力，使得试验的结果更加准确可靠。

技术领域

本实用新型涉及电力损耗检测技术领域，具体为超低频介质损耗测试系统。

背景技术

目前，电气设备的绝缘结构均由各种绝缘介质所构成，由于介质的电导，极性介质中偶极子转动时的摩擦以及介质中的气隙放电，使处在高电压下的介质(或整个绝缘结构)是有损耗的，这种损耗称为介质损耗，而在超低频电压下，对流对电缆介质的电流的采样不能采用用电流互感器，而只能采用采样电阻，但是采样电阻的接入将会对介质损耗角正切的测试带来误差，且误差较大，影响对介质损耗测量的结果，且抗干扰性差，容易受其他因素的影响，并不能进行模拟测量工作。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题在于克服现有技术的误差较大和抗干扰性差等缺陷，提供超低频介质损耗测试系统。所述超低频介质损耗测试系统具有测量精准和抗干扰性强等特点。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：超低频介质损耗测试系统，包括测试电路、升压电路、相位差提取与测量系统、主控单元和介质电桥，所述测试电路的输出端设置有升压电路，所述升压电路由电流信号放大与处理电流与电压信号放大与处理电流组成，且升压电路的输出端电性连接相位差提取与测量系统，所述相位差提取与测量系统与升压电路之间设置有介质电桥，所述介质电桥包括电路检测单元、数字屏蔽单元、信号调节单元和A/D采集单元，所述电路检测单元作用是检测试品的绝缘情况及各项参数，所述信号调节单元用于调节电信号的强度，从而得出不同信号强度下的数据，所述A/D采集单元作用是采集相应的电信号，然后传输到主控单元，所述相位差提取与测量系统的输出端连接主控单元，所述主控单元包括显示模块、CPU控制模块、通讯模块和打印模块，所述显示模块与显示器电性连接，所述显示模块用于将试验数据通过显示器显示出来，所述通讯模块与CPU控制模块连接，所述通讯模块作用是将检测数据通过电信号的形式传输到计算机，便于分析与处理。

优选的，所述测试电路由测试电源和三个电阻组成，两个所述电阻之间串联，另外一个所述电阻与测试电容连接，所述测试电容和两个串联电阻之间并联，通过测试电路设置的测量系统及电阻，使得测量的精度得到了提高，有效地消除了用电阻采样电流时所带来的误差。

优选的，所述CPU控制模块与相位差提取与测量系统的输出端信号连接，保障了此系统的正常进行。

优选的，所述数字屏蔽单元的输入端电性连接测试电路，数字屏蔽单元作用是通过数字屏蔽电缆传输信号，具有很强的抗电磁干扰能力，使得试验的结果更加准确可靠。

优选的，所述显示模块为LCD液晶显示屏设置，显示效果好。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、此介质损耗测试系统在介质损耗角正切测试过零时间差原理的基础上，针对超低频电源频率低的特点，通过测试电路设置的测量系统及电阻，使得测量的精度得到了提高，有效地消除了用电阻采样电流时所带来的误差，按照模块开发的原则，设计了相应的介质损耗测试系统来提高测量精度，该介质损耗测试系统可直接用于频率非0.1Hz的其它超低频电源下的电缆介质损耗角正切的测量；

2、数字屏蔽通讯单元作用是通过数字屏蔽电缆传输信号，具有很强的抗电磁干扰能力，使得试验的结果更加准确可靠，并且该介质损耗测试系统还可以通过信号调节单元的设置，用于调节电信号的强度，从而得出不同信号强度下的数据，使得测量结果变得更加丰富。