[实用新型]一种用于检测偏光片结构层状态的设备

权利要求书

1.一种用于检测偏光片结构层状态的设备，其特征是包括相机、折弯装置和程控实验箱，折弯装置设置于程控实验箱内，折弯装置用于夹持待测样品，并对待测样品进行折弯动作，相机设置在程控实验箱内，用于采集待测样品的图像，程控实验箱用于提供设定的温度和湿度环境。

2.根据权利要求1所述的一种用于检测偏光片结构层状态的设备，其特征是还设有程控控制装置，所述程控控制装置用于向相机、折弯装置及程控实验箱发送操作指令，并接收相机返回的采集图像数据，以及折弯装置和程控实验箱返回的操作响应数据。

3.根据权利要求2所述的一种用于检测偏光片结构层状态的设备，其特征是程控控制装置连接报警装置，报警装置包括声音报警装置和光电报警装置。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种用于检测偏光片结构层状态的设备，其特征是所述相机通过直角坐标机器人设置在程控实验箱内，直角坐标机器人带动相机移动。

5.根据权利要求1或2或3所述的一种用于检测偏光片结构层状态的设备，其特征是所述折弯装置包括2支机械臂和一个撑杆，机械臂用于夹持待测样品的两端，撑杆为一个程控旋转的横杆，用于抵住待测样品，使机械臂进行折弯动作时，待测样品沿抵住的位置折弯。

6.根据权利要求1或2或3所述的一种用于检测偏光片结构层状态的设备，其特征是所述程控实验箱设有开关和紧急开关。