[实用新型]一种用于检测偏光片结构层状态的设备

说明书

一种用于检测偏光片结构层状态的设备，包括相机、折弯装置和程控实验箱，折弯装置设置与程控实验箱内，折弯装置用于夹持待测样品，并对待测样品进行折弯动作，相机设置在程控实验箱内，用于采集待测样品的图像，程控实验箱用于提供设定的温度和湿度环境。本实用新型提供了一种自动检测装置，由程控实验箱提供不同温度、湿度，由折弯装置提供不同绕度，在各种不同条件组合下，通过相机采集的图像，用于进一步分析偏光片在不同条件下的亮度、对比度的还原情况，以及寿命情况，为偏光片的研发检测提供支持。

技术领域

本实用新型属于检测设备技术领域，用于在不同温度、湿度、绕度下，自动检测有源矩阵有机发光二级面板显示屏(AMOLED)所使用的偏光片结构层状态，为一种用于检测偏光片结构层状态的设备。

背景技术

有源矩阵有机发光二级面板显示屏(AMOLED)正逐渐成为目前最炙手可热的显示技术，在电视机、智能手机、投影显示器和微型显示器等领域随处可看到其踪影。由于AMOLED是金属电极结构，在室内或外界强光下的反光，造成阅读的干扰，需要在外AMOLED外部加上可抗环境光反射的偏光片，才能正常使用，所以偏光片对AMOLED的影响非常重要。

现在AMOLED的使用层次主要为民用品，还没有适用于极端温度、极端湿度的产品出现。如果要设计这样产品的偏光膜，就需要以通过改变偏光膜结构层的材质、厚度，大量、反复、自动测试使用了不同结构层的材质、厚度的偏光膜的AMOLED，在不同的极端温度、湿度、绕度的条件下，其亮度、对比度的还原情况，以及寿命，从而通过数据分析，得出适用于极寒、极热、极干、极湿条件下的偏光膜结构层材质和厚度方案，从而生产出对应的产品。查阅现有的技术资料，包括论文、专利，均无该类设备存在。

发明内容

本实用新型要解决的问题是，提供一种在不同温度、湿度、绕度下，自动检测AMOLED所使用的偏光片各结构层参数的设备，以满足AMOLED产品的研发使用需求。

本实用新型的技术方案为：一种用于检测偏光片结构层状态的设备，包括相机、折弯装置和程控实验箱，折弯装置设置与程控实验箱内，折弯装置用于夹持待测样品，并对待测样品进行折弯动作，相机设置在程控实验箱内，用于采集待测样品的图像，程控实验箱用于提供设定的温度和湿度环境。

进一步的，还设有程控控制装置，所述程控控制装置用于向相机、折弯装置及程控实验箱发送操作指令，并接收相机返回的采集图像数据，以及折弯装置和程控实验箱返回的操作响应数据。

进一步的，程控控制装置连接报警装置，报警装置包括声音报警装置和光电报警装置。

作为优选方式，所述相机通过直角坐标机器人设置在程控实验箱内，直角坐标机器人带动相机移动。

作为优选方式，所述折弯装置包括2支机械臂和一个撑杆，机械臂用于夹持待测样品的两端，撑杆为一个程控旋转的横杆，用于抵住待测样品，使机械臂进行折弯动作时，待测样品沿抵住的位置折弯。

作为优选方式，所述程控实验箱设有开关和紧急开关。

本实用新型提供了一种自动检测装置，由程控实验箱提供不同温度、湿度，由折弯装置提供不同绕度，在各种不同条件组合下，通过相机采集的图像，用于进一步分析偏光片在不同条件下的亮度、对比度的还原情况，以及寿命情况，为偏光片的研发检测提供支持。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型的电路结构示意图。

具体实施方式