[实用新型]一种集成电路拾取装置及集成电路测试装置

说明书

本实用新型提供一种集成电路拾取装置及集成电路测试装置，集成电路拾取装置包括支撑集成电路拾取装置的支撑框架；位于支撑框架内部，用于吸取集成电路的吸嘴；与支撑框架连接，支撑并保持吸嘴的吸嘴保持部，吸嘴在吸嘴保持部中可移动；与吸嘴保持部连接的弹性部件，按压或松开弹性部件，吸嘴可以释放或者吸取集成电路。本实用新型的IC拾取装置设计紧凑，易于操作，无需额外的辅助动作，能够提高拾取IC的工作效率。在拾取或者释放IC的过程中，支撑框架能够支撑整个IC拾取装置，无需操作人员双手支撑或者固定，人体不会接触IC，从而能够避免发生静电释放，防止IC被损坏。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，具体涉及一种集成电路拾取装置及集成电路测试装置。

背景技术

在集成电路(IC，Integrated Circuit)封装之后，需要对集成电路进行老化和终测(FT，Final Test)，以保证集成电路的后期性能。在上述老化和FT测试中，经常会使用按压式测试基座，将待测试的IC放入所述测试基座或者从所述测试基座和取走完成测试的IC的过程，通常由人工操作，例如，测试员用一只手按压测试基座，将测试基座的盖子打开，另一只手通过吸取装置放置或取走IC。

目前，通过上述需手动操作的吸取装置吸取或放置IC的过程，在实际操作过程中存在以下问题或隐患：

1.吸取或放置IC的过程需要双手协调工作，工作效率较慢；

2.与socket或者吸取装置接触过程中，容易出现人体接触IC的状况，这样就容易形成HBM(人体放电)放电模式，造成静电释放问题。静电释放是集成电路损坏的一个重要因素。例如，会使MOS集成电路输入端漏电流增大、输出端漏电流增大、静态功耗电流增大，甚至会使MOS集成电路完全损坏失去功能。

由此可见，防止集成电路制备及测试中的静电释放意义重大。因此，急需一种能够吸取装置能够代替现有技术中的上述吸取装置，避免发生人体放电造成集成电路的损坏。

实用新型内容

针对IC测试过程中，现有技术存在的上述缺陷和危害，本实用新型提供一种集成电路拾取装置及集成电路测试装置，该集成电路拾取装置在拾取IC时，避免了人体尤其是操作人员的双手接触测试基座，从而避免由于人体静电释放造成集成电路的损坏。本实用新型的上述IC拾取装置能够实现单收操作，提高了测试环节的工作效率。

根据本实用新型的第一方面，本实用新型提供了一种集成电路拾取装置，包括：

支撑框架；

吸嘴，位于所述支撑框架内部，用于吸取所述集成电路；

吸嘴保持部，与所述支撑框架连接，支撑并保持所述吸嘴，所述吸嘴在所述吸嘴保持部中可移动；

弹性部件，与所述吸嘴保持部连接，按压或松开所述弹性部件，所述吸嘴可以释放或者吸取所述集成电路；

其中所述支撑框架固定并支撑所述吸嘴、所述吸嘴保持部以及所述弹性部件。

可选地，所述吸嘴保持部包括：

吸嘴套筒，与所述支撑框架相对固定地设置，并且位于所述支撑框架中，吸嘴套筒的第一端与所述弹性部件的出气口连接，所述吸嘴可滑动地设置在所述吸嘴套筒内通过所述吸嘴套筒与所述弹性部件连通，并且所述吸嘴自所述吸嘴套筒的第二端伸出；以及

吸嘴保持连杆，可转动地与所述吸嘴套筒连接，所述吸嘴保持连杆与所述弹性部件连接，按压或者松开所述弹性部件带动所述吸嘴保持连杆运动，以释放或者保持所述吸嘴。

可选地，所述弹性部件在水平方向上相对设置有连接部，所述吸嘴保持连杆的第一连杆的连接端和第二连杆的连接端分别与所述弹性部件两侧的所述连接部连接。