[实用新型]电源的老化测试系统有效
申请号: | 201920976109.7 | 申请日: | 2019-06-26 |
公开(公告)号: | CN210270115U | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 梁远文;黄维;何富荣 | 申请(专利权)人: | 深圳市鼎泰佳创科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/40 | 分类号: | G01R31/40 |
代理公司: | 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 | 代理人: | 安秀梅 |
地址: | 518000 广东省深圳市光明新区公明街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电源 老化 测试 系统 | ||
1.一种电源的老化测试系统,其特征在于,包括测试装置,所述测试装置上设置有多个待测产品,每个所述待测产品包括至少两路电源输出;
所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵,所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路,所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路,每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接,以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,基于所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵,每个所述矩阵中形成的每一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述待测产品包括第一路电源输出和第二路电源输出,基于所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵,其中M、N≥2;
所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的第一路电源输出依次串联,形成M路串联输出回路;所述M*N矩阵中每一列的所述待测产品的第二路电源输出依次串联,形成N路串联输出回路;基于所述待测产品的两路电源输出形成N+M路串联输出回路。
4.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述待测产品包括第一路电源输出、第二路电源输出和第三路电源输出,所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵,所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行或每一列组成一个p行q列的p*q矩阵,其中M、N≥2,p、q≥2,M/N=p*q;
所述p*q矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联,形成p路串联输出回路;所述p*q矩阵中每一列的所述待测产品的电源输出依次串联,形成q路串联输出回路;所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联,形成M路串联输出回路;基于所述待测产品的三路电源输出形成M+N*(p+q)路串联输出回路。
5.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述待测产品包括第一路电源输出、第二路电源输出、第三路电源输出和第四路电源输出;所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵,所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行组成一个m行n列的m*n矩阵,所述待测产品的第四路电源输出与所述M*N矩阵中的每一列组成一个p行q列的p*q矩阵;
所述m*n矩阵中每一行的电源输出依次串联后形成m路串联输出回路,所述m*n矩阵中每一列的电源输出依次串联后形成n路串联输出回路,所述m*n矩阵共有M层;所述p*q矩阵中每一行的电源输出依次串联后形成p路串联输出回路,所述p*q矩阵中每一列的电源输出依次串联后形成q路串联输出回路,所述p*q矩阵共有N层;基于所述待测产品的四路电源输出形成M*(m+n)+N*(p+q)路串联输出回路。
6.根据权利要求1-5任一项所述的系统,其特征在于,每个所述一路串联输出回路分别与不同的老化测试负载电连接。
7.根据权利要求1-5任一项所述的系统,其特征在于,同一个所述老化测试负载电连接的不同串联输出回路之间在电气上隔离。
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