[实用新型]电源的老化测试系统

说明书

本申请公开了一种电源的老化测试系统，该系统包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。通过上述电源的老化测试系统，能够提升电源的老化测试的测试效率，并且降低成本。

技术领域

本实用新型涉及产品老化测试领域，尤其涉及一种电源的老化测试系统。

背景技术

老化测试是指产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，例如通过仿真出高温、高恶劣条件下的测试环境对电源进行长时间烧机，以提高产品安全性、稳定性和可靠性。

在通过老化测试柜或老化测试房对待测产品进行批量老化测试时，针对不同数量的多路输出(大于或等于两路输出)的电源，传统的老化测试系统如图一和图二所示。其中，图一所示的老化测试系统对多个电源的输出采用并联的连接方式，产品的每一路输出配置一个升压模块，将每一路输出的升压至一个指定电压，然后通过逆变器将电压回馈至电网。图二所示的老化测试系统对多个电源的输出采用串联的连接方式，将多个电源中功率较大的一路输出串联，由于串联起来后每路输出的负极是不同的，因此其余输出只能采用隔离式电子负载或电阻负载来进行老化测试。

但是，图一所示的老化测试系统中的每一个输出均需要一路升压模块，成本较高，而且升压至指定电压的效率较低，配线比较复杂；图二所示的老化测试系统中，只有主路输出才能串联起来，其余的输出只能采用隔离式模块进行老化测试，同样存在效率低的问题，并且需要的隔离模块较多，成本较高。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种电源的老化测试系统，能够提升电源的老化测试的测试效率，并且降低成本。

一种电源的老化测试系统，包括测试装置，所述测试装置上设置有多个待测产品，每个所述待测产品包括至少两路电源输出；

所述多个待测产品按照行、列分布组成矩阵，所述矩阵中每一行的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，所述矩阵中每一列的所述待测产品的一路电源输出依次串联后形成一路串联输出回路，每个所述一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接，以形成对所述一路串联输出回路的老化测试。

可选的，在其中一个实施例中，基于所述待测产品的电源输出路数组成至少一个矩阵，每个所述矩阵中形成的每一路串联输出回路分别与一个老化测试负载电连接。

可选的，在其中一个实施例中，所述待测产品包括第一路电源输出和第二路电源输出，基于所述待测产品的两路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，其中M、N≥2；

所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的第一路电源输出依次串联，形成M路串联输出回路；所述M*N矩阵中每一列的所述待测产品的第二路电源输出依次串联，形成N路串联输出回路；基于所述待测产品的两路电源输出形成N+M路串联输出回路。

可选的，在其中一个实施例中，所述待测产品包括第一路电源输出、第二路电源输出和第三路电源输出，所述待测产品的第一路电源输出与第二路电源输出组成一个M行N列的M*N矩阵，所述待测产品的第三路电源输出与所述M*N矩阵中的每一行或每一列组成一个p行q列的p*q矩阵；其中M、N≥2，p、q≥2，M/N＝p*q；

所述p*q矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联，形成p路串联输出回路；所述p*q矩阵中每一列的所述待测产品的电源输出依次串联，形成q路串联输出回路；所述M*N矩阵中每一行的所述待测产品的电源输出依次串联，形成M路串联输出回路；基于所述待测产品的三路电源输出形成M+N*(p+q)路串联输出回路。