[实用新型]一种半导体致冷片老化测试装置

说明书

本实用新型提供了一种半导体致冷片老化测试装置，涉及半导体致冷片技术领域。半导体致冷片老化测试装置包括测试台、限位组件、第一导热板、第二导热板和测试控制器，第一导热板的底面与待测致冷片的冷面贴合，测试控制器包括处理器、供电电源、变换开关、检测组件和计时计数器，变换开关设于供电电源与所述待测致冷片之间，检测组件包括温度传感器和电流传感器，电流传感器的输入端与致冷片电性连接。本实用新型通过测试控制器的设计，以采用自动化的方式对待测致冷片进行老化测试，防止了由于采用人工手动测试导致的测试效率低下、测试精准度低的现象。

技术领域

本实用新型涉及半导体致冷片技术领域，具体而言，涉及一种半导体致冷片老化测试装置。

背景技术

半导体致冷片是由瓷板和焊接在瓷板上的多个晶粒组成的，致冷片中间是等距装设的晶粒、两侧是瓷板。半导体致冷器的工作运转是用直流电流，它既可致冷又可加热，通过改变直流电流的极性来决定在同一致冷器上实现致冷或加热。半导体致冷器是利用半导体材料的珀尔帖效应制成的，所谓珀尔帖效应，指当直流电流通过两种半导体材料组成的电偶时，一端吸热，一端放热的现象。在现有的半导体致冷片使用过程中，为了确保其出厂后的性能稳定，需要对致冷片进行老化测试，以判断致冷片是否满足出厂条件。

现有的半导体致冷片老化测试过程中，均通过采用人工手动测试的方式进行老化测试检测，使得工作人员操作繁琐，导致测试效率低下且测试精准度低。

实用新型内容

本实用新型提供了一种半导体致冷片老化测试装置，旨在改善现有的半导体致冷片老化测试效率低下且测试精准度低的技术问题。

一种半导体致冷片老化测试装置，包括测试台、设于所述测试台上的限位组件、与所述限位组件连接的第一导热板、设于所述测试台底部的第二导热板和与待测致冷片电性连接的测试控制器，所述第一导热板的底面与待测致冷片的顶面贴合，所述测试控制器包括处理器和分别与所述处理器电性连接的供电电源、变换开关、检测组件和计时计数器，所述变换开关设于所述供电电源与所述待测致冷片之间，所述变换开关用于控制所述供电电源朝向所述待测致冷片输送的电流属性，所述检测组件包括分别与所述处理器电性连接的温度传感器和电流传感器，所述温度传感器用于检测所述第一导热板和所述待测致冷片上端的温度，并将检测结果发送至所述处理器，所述电流传感器的输入端与所述待测致冷片电性连接，所述电流传感器用于检测所述待测致冷片的当前电流值，并将检测结果发送至所述处理器，所述计时计数器用于在所述处理器控制下记录所述待测致冷片的寿命时长。

进一步地，在本实用新型较佳的实施例中，所述限位组件包括与所述待测致冷片侧壁抵触接触的定位块、贯穿所述定位块的固定杆、与所述固定杆顶端连接的压簧片和贯穿所述压簧片末端的压簧螺丝，且所述压簧螺丝的末端与所述第一导热板螺纹连接。

进一步地，在本实用新型较佳的实施例中，所述半导体致冷片老化测试装置还包括导热组件，所述导热组件包括多个导热脂，所述导热脂贴设于所述待测致冷片的表面。

进一步地，在本实用新型较佳的实施例中，所述第二导热板背向所述测试台的一侧设有通气散热座，所述通气散热座内设有散热风扇，所述散热风扇用于提高所述第二导热板的导热效率。

进一步地，在本实用新型较佳的实施例中，所述通气散热座的底部设有多个支撑脚，所述支撑脚的末端设有橡胶垫。

进一步地，在本实用新型较佳的实施例中，所述第一导热板上设有感温孔，所述温度传感器设于所述感温孔内。

进一步地，在本实用新型较佳的实施例中，所述变换开关采用整流器或逆变器制成。

进一步地，在本实用新型较佳的实施例中，所述第一导热板和所述第二导热板上均设有多个导热孔，所述导热孔采用圆柱形通孔结构制成。

进一步地，在本实用新型较佳的实施例中，所述第一导热板和所述第二导热板均采用铝板材质制成。