[实用新型]图腾柱结构测试修调电路

说明书

本实用新型涉及一种图腾柱结构测试修调电路，包括：自动测试设备、供电电路、图腾柱阵列和被测器件，其中：所述自动测试设备用于对被测器件进行测试；所述供电电路的输入端连接所述自动测试设备的供电电源，输出端连接所述图腾柱阵列的输入端，并用于对所述图腾柱阵列供电；所述图腾柱阵列的输出端连接所述被测器件，并用于对所述被测器件的熔丝进行修调，调整所述自动测试设备对所述被测器件的测试结果。本实用新型提供的图腾柱结构测试修调电路，通过使用自动测试设备的供电电源，无需占用自动测试设备的VI源，解决了传统修调电路中占用VI源的问题，可以最大化地提升修调类产品的生产测试效率。

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，特别是涉及一种图腾柱结构测试修调电路。

背景技术

为了实现集成电路参数的高精度控制，越来越多的模拟集成电路采用测试修调设计,对流片工艺造成的电性参数偏差进行补偿。传统实现的方法一般是在测试过程中，利用ATE(Auto Test Equipment，自动测试设备)的VI源(Voltage and current standardsource，电压电流源)施加电压、电流，烧断特定的熔丝，改变内部电路的网络拓扑结构，达到调整电性参数的目的。

传统方案一，对DUT(Decive Under Test，被测器件)的一种电路拓扑结构，如图1所示，在测试过程中，通过在ATE的VI₁～VI_n+1分别施加高电位或低电位，烧断节点A、B之间特定的熔丝，改变节点A、B之间的电阻阻值。这种方案通常会面临ATE的VI资源占用过多的问题，VI资源占用过多，会导致可用于测试的VI源数量减少，以减少测量的同测数为代价换取并行修调的可能，最终结果是影响了生产效率的提升。

对DUT的另一种电路拓扑结构，如图2所示，则是通过在ATE的VI₁～VI_n分别施加高电位，烧断节点A、GND之间特定的熔丝，改变节点A、GND之间的电阻阻值。这种方案也会面临ATE的VI资源占用过多的问题。

传统方案二，在传统方案一的基础上采用了干簧继电器矩阵，实现VI源复用，以达到减少使用VI源的目的。对DUT(Decive Under Test，被测器件)的一种电路拓扑结构，如图3所示，利用VI1和VI2分别施加高电位和低电位，对应闭合干簧继电器矩阵中的继电器，烧断节点A、B之间特定的熔丝，改变节点A、B之间的电阻阻值。这种方案虽然减少了使用VI源，仍然会面临ATE的VI资源占用的问题，测量的同测数和熔丝并行修调数量仍然会受限，其结果仍然是无法实现生产效率的最大化。

对DUT的另一种电路拓扑结构，如图4所示，利用VI1施加高电位，对应闭合干簧继电器矩阵中的继电器，烧断节点A、B之间特定的熔丝，改变节点A、B之间的电阻阻值。这种方案虽然进一步减少了使用VI源，仍然会面临ATE的VI资源占用的问题，测量的同测数和熔丝并行修调数量仍然会受限，其结果仍然是无法实现生产效率的最大化。

实用新型内容

基于此，有必要针对现有模拟集成电路测试修调设计中,占用自动测试设备的VI源，影响生产效率的问题，提供一种图腾柱结构测试修调电路。

一种图腾柱结构测试修调电路，包括：自动测试设备、供电电路、图腾柱阵列和被测器件，其中：

所述自动测试设备用于对被测器件进行测试；

所述供电电路的输入端连接所述自动测试设备的供电电源，输出端连接所述图腾柱阵列的输入端，并用于对所述图腾柱阵列供电；

所述图腾柱阵列的输出端连接所述被测器件，并用于对所述被测器件的熔丝进行修调，调整所述自动测试设备对所述被测器件的测试结果。