[实用新型]一种电池片测试装置有效
申请号: | 201921156651.4 | 申请日: | 2019-07-22 |
公开(公告)号: | CN210142637U | 公开(公告)日: | 2020-03-13 |
发明(设计)人: | 何达能;方结彬;林纲正 | 申请(专利权)人: | 广东爱旭科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L31/18 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫;周应勋 |
地址: | 528000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电池 测试 装置 | ||
1.一种电池片测试装置,其特征在于,包括光源组件、探针排以及与所述探针排相连接的控制系统,
所述探针排包括同轴设置的若干组针座,所述若干组针座首尾依次可转动连接;
每组所述针座设有若干探针,所述探针用于均匀压设在待检测的半片电池片或整片电池片的电极上;
所述光源组件用于为待检测的半片电池片或整片电池片表面提供照射光源。
2.如权利要求1所述的电池片测试装置,其特征在于,所述电池片测试装置设有第一探针排和第二探针排,所述第一探针排与第二探针排上下对应设置,所述第一探针排及第二探针排之间的间距可调,所述第一探针排及第二探针排分别与所述控制系统连接。
3.如权利要求2所述的电池片测试装置,其特征在于,所述光源组件包括第一光源和第二光源,所述第一光源设于第一探针排上方,所述第二光源设于第二探针排下方。
4.如权利要求3所述的电池片测试装置,其特征在于,所述光源组件还包括第一导轨和第二导轨,所述第一导轨及第二导轨沿所述针座的长度方向延伸,所述第一光源滑动设于第一导轨上,所述第二光源互动设于第二导轨上。
5.如权利要求1所述的电池片测试装置,其特征在于,相邻两组针座可相对转动的角度为0~180°。
6.如权利要求3所述的电池片测试装置,其特征在于,所述第一光源及第二光源为氙灯。
7.如权利要求3所述的电池片测试装置,其特征在于,所述第一光源及第二光源与待检测的电池片之间的垂直距离为2—100cm。
8.如权利要求1所述的电池片测试装置,其特征在于,所述探针呈阵列式分布于所述针座上,每组所述针座上设有2-8排探针,每排探针包括4-20个探针,所述探针呈阵列式均匀压在所述半片电池片或整片电池片的电极上。
9.如权利要求1所述的电池片测试装置,其特征在于,所述探针由导电性能好的金属或合金制成。
10.如权利要求1所述的电池片测试装置,其特征在于,所述探针由金、金合金或银制成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造