[实用新型]一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺

说明书

本实用新型涉及测量仪器领域，具体涉及一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺，包括精测装置、放大装置和粗测装置，其中，放大装置包括精测齿轮和中心齿轮，中心齿轮能够带动精测齿轮转动，中心齿轮的角速度小于精测齿轮的角速度，第一旋转磁体组件和第一磁场检测组件其中之一与精测齿轮相连接，另一个与旋转体相连接，中心齿轮用于和基座一起转动连接于旋转体上；本申请的一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺，通过粗测装置测得一定精度要求的被测角度，再通过放大装置和精测装置测得被测数据中的更高精度部分，之后合成为最终的被测角度，即可达到更高的精度，以满足某些领域使用角度尺的精度要求。

技术领域

本实用新型涉及测量仪器领域，具体涉及一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺。

背景技术

角度尺是通过基尺和直尺抵靠被测物体的夹角来测量角度的角度测量仪器。

如图1所示，现有的数显角度尺包括用于测量角度的基尺4和直尺5，所述基尺4与基座6相连接，所述直尺5和旋转体7相连接，所述基尺4和基座6 一起转动连接于所述旋转体7。

现有的数显角度尺普遍基于容栅，光栅自身特性进行计量，其精度达到一定要求后(一般为360°/2¹⁴)后无法再成倍的提高，但是该精度不能满足某些领域使用角度尺所需要的精度要求。

综上所述，目前需要一种数显角度尺，能够达到更高的精度。

实用新型内容

针对现有技术存在的数显角度尺的精度不能满足某些领域使用角度尺所需要的精度要求的问题，本实用新型提供了一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺，在利用粗测装置达到一定的精度基础上利用放大装置和粗测装置，提高角度尺的最高精度，以满足某些领域使用角度尺的精度要求。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为：

一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺，包括，

精测装置，包括相互转动配合的第一旋转磁体组件和第一磁场检测组件，所述第一磁场检测组件能够检测所述第一旋转磁体组件的磁场方位角及其变化数据，并得到对应的被测角度；

放大装置，包括精测齿轮和中心齿轮，所述中心齿轮能够带动精测齿轮转动，且转动时，所述中心齿轮的角速度小于所述精测齿轮的角速度，所述第一旋转磁体组件和所述第一磁场检测组件其中之一与所述精测齿轮相连接，且能够同步转动，另一个与所述所述旋转体相连接，且能够同步转动，所述中心齿轮用于和基座一起转动连接于旋转体上；

粗测装置，用于测量所述旋转体相对于所述基座的旋转角度。

本申请所述的一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺，通过粗测装置测量所述旋转体相对于所述基座的旋转角度，以得到对应的一定精度要求的被测角度。

而在上述测量精度的基础上，利用放大装置，将中心齿轮和基座一起转动连接于旋转体上，以实现中心齿轮和基座同步转动，即旋转体相对于所述基座的旋转角度即为中心齿轮相对于旋转体的旋转角度，而利用中心齿轮能够带动精测齿轮转动，且转动时，所述中心齿轮的角速度小于所述精测齿轮的角速度，使得中心齿轮转动较小的角度来实现精测齿轮对应转动较大的角度，通过测量精测齿轮旋转角度来实现对中心齿轮的旋转角度的测量。

同时，所述第一旋转磁体组件和所述第一磁场检测组件其中之一与所述精测齿轮相连接，且能够同步转动，另一个与所述旋转体相连接，且能够同步转动，利用第一磁场检测组件能够检测所述第一旋转磁体组件的磁场方位角及其变化数据，

综上所述，通过粗测装置测得一定精度要求的被测角度，再通过放大装置和精测装置测得被测数据中的更高精度部分，之后合成为最终的被测角度，即可达到更高的精度，以满足某些领域使用角度尺的精度要求。