[实用新型]内存芯片超频测试模块有效
| 申请号： | 201921242278.4 | 申请日： | 2019-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN209947446U | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 洪康宁 | 申请（专利权）人： | 全何科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 许静;安利霞 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试机台 内存芯片 存盘 机械手臂 测试盘 测试 预测 筛选 本实用新型 准确度 测试模块 电性连接 阶段预测 误判 两阶段 超频 筛检 制程 内存 应用 | ||
1.一种内存芯片超频测试模块，应用在筛检不同速度的内存芯片，其特征在于，包括：
一测试盘区，放置待测试的内存芯片；
一定位暂存盘，所述定位暂存盘分为一定位区以及一暂存区，所述定位区用以调整内存芯片的排列；
至少一预测试机台，且所述预测试机台内设定有一预测试参数；
多个测试机台；以及
一机械手臂，所述机械手臂用以抓取内存芯片，且所述机械手臂电性连接所述测试盘区、所述定位暂存盘、所述至少一预测试机台以及多个所述测试机台；
其中所述机械手臂从所述测试盘区抓取内存芯片至所述定位暂存盘的所述定位区，使内存芯片排列一致，再次抓取内存芯片移动至所述至少一预测试机台，借由所述至少一预测试机台依据所述预测试参数对内存芯片进行第一阶段筛检，通过第一阶段筛检的内存芯片由所述机械手臂移动到所述测试机台，对内存芯片进行完整芯片测试，所述暂存区用以存放等待进行完整芯片测试的内存芯片，未通过测试的内存芯片则由所述机械手臂移回所述测试盘区。
2.依据权利要求1所述的内存芯片超频测试模块，其特征在于，所述测试盘区还包括至少一第一测试盘、至少一第二测试盘以及至少一第三测试盘，所述至少一第一测试盘放置准备进行第一次筛选的内存芯片，所述至少一第二测试盘放置等待降级再测试的内存芯片，所述至少一第三测试盘放置待淘汰的内存芯片。
3.依据权利要求1所述的内存芯片超频测试模块，其特征在于，所述预测试参数，依据使用者筛选出特定速度的内存芯片做设定，所述预测试参数需比筛选出的特定速度高。
4.依据权利要求1所述的内存芯片超频测试模块，其特征在于，内存芯片是否通过所述预测试机台的筛检，透过一通讯装置的接口，通过所述机械手臂分辨内存芯片是否通过预测试的筛检。
5.依据权利要求1所述的内存芯片超频测试模块，其特征在于，所述预测试机台进行的第一阶段筛检还包括直流参数测试和交流参数测试。
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