[实用新型]内存芯片超频测试模块有效
申请号: | 201921242278.4 | 申请日: | 2019-08-02 |
公开(公告)号: | CN209947446U | 公开(公告)日: | 2020-01-14 |
发明(设计)人: | 洪康宁 | 申请(专利权)人: | 全何科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 许静;安利霞 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
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本实用新型为一种内存芯片超频测试模块,应用在两阶段的内存芯片测试制程中,筛检不同速度的内存芯片,包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台以及机械手臂,机械手臂电性连接测试盘区、定位暂存盘、预测试机台以及测试机台,预测试机台设置在定位暂存盘及测试机台的中间,对内存做第一阶段的测试及筛选,经过第一阶段预测试机台筛选通过的内存,将在测试机台进行完整的内存芯片测试。提高效率、准确度及减少误判。
技术领域
本实用新型有关于一种内存芯片超频测试模块,尤其是透过预测试机台对内存芯片做初步筛检,达到多速度分类的工程。
背景技术
目前随着科技日新月异,各种内存也以不同形式应用于日常生活中,以使各种电子设备具备更多功能和操作性。例如个人计算机(PC)内常用的随机存取内存(RandomAccess Memory,RAM),具备随时读写及高速度的特性,故常被作为操作系统或其他正在执行中的程序的临时数据的储存媒介。又可细分为,动态随机存取内存(Dynamic RandomAccess Memory,DRAM)以及静态随机存取内存(Static Random Access Memory,SRAM)。
且在电竞产业近年来成长速度之快,其首要配备就是利用高阶电子设备,如:主板、内存等,作为获胜的标准配备,再搭配选手的智力、技巧的展现,而电竞选手在硬件配备选择上首重内存速度,因此,为制造出高速度内存,其需要提高对制程上的需求,也就是从颗粒测试着手,因为颗粒即为制造内存的重要原物料之一。
在传统上,内存制程及测试的方法,采用大量的人力进行颗粒的速度分类,且必须由低速开始筛检,若要检测出超频的内存,为了避免机台故障而造成的后续维修成本,采用大量人力的同时也代表耗费大量时间以及管理成本,而且人员的眼力及体力所造成的疲劳及误判也随之提升,都是需要突破及改进的地方。
实用新型内容
由于上述的问题,对于检测出超频内存,本实用新型的主要目的在于提供一种内存芯片超频测试模块,应用于筛检不同速度的内存芯片,内存芯片超频测试模块包含:
一测试盘区,放置待测试的内存芯片;
一定位暂存盘,所述定位暂存盘分为一定位区以及一暂存区,所述定位区用以调整内存芯片的排列;
至少一预测试机台,且所述预测试机台内设定有一预测试参数;
多个测试机台;以及
一机械手臂,所述机械手臂用以抓取内存芯片,且所述机械手臂电性连接所述测试盘区、所述定位暂存盘、所述至少一预测试机台以及多个所述测试机台;
其中所述机械手臂从所述测试盘区抓取内存芯片至所述定位暂存盘的所述定位区,使内存芯片排列一致,再次抓取内存芯片移动至所述至少一预测试机台,借由所述至少一预测试机台依据所述预测试参数对内存芯片进行第一阶段筛检,通过第一阶段筛检的内存芯片由所述机械手臂移动到所述测试机台,对内存芯片进行完整芯片测试,所述暂存区用以存放等待进行完整芯片测试的内存芯片,未通过测试的内存芯片则由所述机械手臂移回所述测试盘区。
较佳的,所述测试盘区还包括至少一第一测试盘、至少一第二测试盘以及至少一第三测试盘,所述至少一第一测试盘放置准备进行第一次筛选的内存芯片,所述至少一第二测试盘放置等待降级再测试的内存芯片,所述至少一第三测试盘放置待淘汰的内存芯片。
较佳的,所述预测试参数,依据使用者筛选出特定速度的内存芯片做设定,所述预测试参数需比筛选出的特定速度高。
较佳的,内存芯片是否通过所述预测试机台的筛检,透过一通讯装置的接口,通过所述机械手臂分辨内存芯片是否通过预测试的筛检。
较佳的,所述预测试机台进行的第一阶段筛检还包括直流参数测试和交流参数测试。
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