[实用新型]一种用于微控制单元的多模块测试装置有效

专利信息
申请号: 201921252701.9 申请日: 2019-08-05
公开(公告)号: CN210155549U 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 钟凯;贾帅 申请(专利权)人: 华大半导体有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 代理人: 李镝的
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 控制 单元 模块 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种用于微控制单元的多模块测试装置,其特征在于,包括:

多个测试电路模块,其被配置为能够通过连接线路与微控制单元对接以便为微控制单元的相应功能测试提供相应测试电路;

多个开关,所述开关分别布置在测试电路模块与微控制单元之间的连接线路中以用于选择所述测试电路模块的连接或断开;以及

输入输出测试端口,其被配置为能够将微控制单元与测试端口连接。

2.根据权利要求1所述的多模块测试装置,其特征在于,所述多个测试电路模块包括下列各项中的两个或更多个:

ISP测试电路模块;

SPI测试电路模块;

I 2C测试电路模块;

ADC测试电路模块;

OPA测试电路模块;

PLL测试电路模块;以及

VC测试电路模块。

3.根据权利要求1所述的多模块测试装置,其特征在于,还包括工作模式控制电路,其被配置为控制微控制单元的工作模式,其中所述工作模式控制电路通过开关连接到微控制单元。

4.根据权利要求1所述的多模块测试装置,其特征在于,所述多个测试电路模块集成在单个电路板上或者每个测试电路模块分别设置在一个电路板上,其中所述多个测试电路通过连接电路与微控制单元连接。

5.根据权利要求1所述的多模块测试装置,其特征在于,还包括基本模块,所述基本模块被配置为为微控制单元提供测试电路以外的用于运行微控制单元的基本电路。

6.根据权利要求5所述的多模块测试装置,其特征在于,所述基本模块包括:电源电路、晶振电路、串行线调试SWD电路以及复位电路。

7.一种用于微控制单元的多模块测试装置,其特征在于,包括:

多个测试电路模块,其被配置为能够通过连接线路与微控制单元对接以便为微控制单元的相应功能测试提供相应测试电路;

多个开关,所述开关分别布置在测试电路模块与微控制单元之间的连接线路中以用于选择所述测试电路模块的连接或断开;

工作模式控制电路,其被配置为控制微控制单元的工作模式,其中所述工作模式控制电路通过开关连接到微控制单元;

基本模块,所述基本模块被配置为为微控制单元提供测试电路以外的用于运行微控制单元的基本电路;以及

输入输出测试端口,其被配置为能够将微控制单元与测试端口对接以便测试微控制单元的输入输出状态。

8.根据权利要求7所述的多模块测试装置,其特征在于,所述基本模块包括:电源电路、晶振电路、串行线调试SWD电路以及复位电路。

9.根据权利要求7所述的多模块测试装置,其特征在于,每个测试电路模块被配置为能够为多个微控制单元提供相应测试电路。

10.根据权利要求7所述的多模块测试装置,其特征在于,所述多个测试电路模块集成在电路板上,并且所述开关为包括多个开关的开关阵列,所述开关阵列被配置为根据相应控制信号来开关相应开关。

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