[实用新型]一种用于微控制单元的多模块测试装置

说明书

本实用新型涉及一种用于微控制单元的多模块测试装置，其特征在于，包括：多个测试电路模块，其被配置为能够通过连接线路与微控制单元对接以便为微控制单元的相应功能测试提供相应测试电路；多个开关，所述开关分别布置在测试电路模块与微控制单元之间的连接线路中以用于选择所述测试电路模块的连接或断开；以及输入输出测试端口，其被配置为能够将微控制单元与测试端口连接。通过本实用新型，能够以模块化的形式选择性地接入并提供用于不同测试项目的测试电路模块，由此实现只使用一个测试装置就能方便地实现多种测试项目。

技术领域

本实用新型总的来说涉及电路测试领域，具体而言，涉及一种用于微控制单元的多模块测试装置。

背景技术

目前为了测试微控制单元(Micro Control Unit,MCU)一般所使用的测试板是最小系统板。最小系统板包括用于运行MCU的基本电路、以及用于测试微控制单元的输入输出状态的IO测试端口。最小系统板具有电路简单、前期制作准备时间短等优点。但是在许多测试项目中、尤其是在与模拟相关的测试中，由于缺少外围电路或者电路走线没有考虑到项目的特殊要求，导致测试成本加大或测试结果不理想。例如，在模拟测试项目等中，由于缺少外围电路，需要人工焊接，由此增加工作量；在部分测试项目中，需要更换外围电路参数值，由此增加工作量，且由于长期焊接，易造成焊盘损坏；在具有特殊要求的某些项目中，由于电路走线未考虑到这些特殊要求，因此可能造成测试结果的不理想。

实用新型内容

从现有技术出发，本实用新型的任务是提供一种用于微控制单元的多模块测试装置，通过所述多模块测试装置，可以以模块化的形式选择性地接入并提供用于不同测试项目的测试电路模块，由此实现只使用一个测试装置就能方便地实现多种测试项目。

在本实用新型的第一方面，该任务通过一种用于微控制单元的多模块测试装置来解决，该装置包括：

多个测试电路模块，其被配置为能够通过连接线路与微控制单元对接以便为微控制单元的相应功能测试提供相应测试电路；

多个开关，所述开关分别布置在测试电路模块与微控制单元之间的连接线路中以用于选择所述测试电路模块的连接或断开；以及

输入输出测试端口，其被配置为能够将微控制单元与测试端口连接。

在本实用新型的一个扩展方案中规定，所述多个测试电路模块包括下列各项中的两个或更多个：

ISP测试电路模块；

SPI测试电路模块；

I2C测试电路模块；

ADC测试电路模块；

OPA测试电路模块；

PLL测试电路模块；以及

VC测试电路模块。

在本实用新型的另一扩展方案中规定，该装置还包括工作模式控制电路，其被配置为控制微控制单元的工作模式，其中所述工作模式控制电路通过开关连接到微控制单元。

在本实用新型的又一扩展方案中规定，所述多个测试电路模块集成在电路板上。

在本实用新型的另一扩展方案中规定，该装置还包括基本模块，所述基本模块被配置为为微控制单元提供测试电路以外的用于运行微控制单元的基本电路。

在本实用新型的又一扩展方案中规定，所述基本模块包括：电源电路、晶振电路、串行线调试SWD电路以及复位电路。

在本实用新型的第二方面，前述任务还通过一种用于微控制单元的多模块测试装置来解决，该装置包括：

多个测试电路模块，其被配置为能够通过连接线路与微控制单元对接以便为微控制单元的相应功能测试提供相应测试电路；