[实用新型]一种芯片测试架有效
| 申请号： | 201921303984.5 | 申请日： | 2019-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN210923889U | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 李虎;徐建飞 | 申请（专利权）人： | 深圳市德明利技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人： | 何兵;饶盛添 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区民治街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 | ||
1.一种芯片测试架，其特征在于，包括：电源接口、USB接口、主控芯片组件、主控插针板、PCB板、闪存芯片，以及闪存芯片底座；
所述USB接口设置在所述PCB板上；
所述电源接口设置在所述PCB板上，以给所述PCB板上的各部件通电；
所述闪存芯片底座设置在所述PCB板一端面；
所述闪存芯片设置在所述闪存芯片底座上；
所述PCB板远离所述闪存芯片的一端面设置有所述主控插针板；
所述主控芯片组件一端设有插针脚，所述插针脚与所述主控插针板配合，实现两者的活动连接。
2.根据权利要求1所述的芯片测试架，其特征在于，所述芯片组件包括主控芯片底座和主控芯片；
所述主控芯片相对的两端设有引脚；
所述主控芯片底座相对的两端设有引脚定位槽；
所述引脚与所述引脚定位槽配合，实现所述主控芯片与所述主控芯片底座的活动连接。
3.根据权利要求2所述的芯片测试架，其特征在于，所述主控芯片底座远离所述引脚定位槽的一端的侧壁设有缺口；
所述缺口的底部相对所述PCB板的高度高于所述引脚定位槽所在的平面。
4.根据权利要求2所述的芯片测试架，其特征在于，还包括电源开关；
所述PCB板上设有多组所述闪存芯片底座以及所述闪存芯片；
各所述闪存芯片分别设置在所述闪存芯片底座上；
所述PCB板远离所述闪存芯片的一端设有多组所述主控芯片组件，所述主控芯片组件的数量与所述闪存芯片相同；
各所述主控芯片组件的一端分别设有一所述电源开关，以控制外接电源给所述芯片测试架供电与断电；
各所述芯片组件分别与各所述闪存芯片电连接，以实现测试所述主控芯片。
5.根据权利要求4所述的芯片测试架，其特征在于，所述电源开关相对所述PCB板的高度高于所述芯片组件相对所述PCB板的高度，且所述电源开关与所述芯片组件位于所述PCB板的同一水平线。
6.根据权利要求2所述的芯片测试架，其特征在于，所述主控芯片以预设角度倾斜设置于所述主控芯片底座。
7.根据权利要求6所述的芯片测试架，其特征在于，所述预设角度范围为30°至45°。
8.根据权利要求2所述的芯片测试架，其特征在于，所述主控芯片底座相对所述主控插针板的一端设有定位柱，且所述定位柱远离所述插针脚设置；
所述主控插针板与所述定位柱相对的一端设有定位孔；
所述定位柱与所述定位孔配合，以实现所述主控芯片底座和所述主控插针板之间的定位。
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