[实用新型]一种芯片测试架

说明书

本实用新型揭示了一种芯片测试架，包括：电源接口、USB接口、主控芯片组件、主控插针板、PCB板、闪存芯片，以及闪存芯片底座；USB接口设置在PCB板上；电源接口设置在PCB板上，以给PCB板上的各部件通电；闪存芯片底座设置在PCB板一端面；闪存芯片设置在闪存芯片底座上；PCB板远离闪存芯片的一端面设置有主控插针板；主控芯片组件一端设有插针脚，插针脚与主控插针板配合，实现两者的活动连接。与现有技术相比，上述结构无需通过焊接的方式将主控芯片组件设置在PCB板上，大幅降低主控芯片结构损坏的概率，缩短主控芯片的测试时间；主控芯片组件与PCB板活动连接，极大地提高主控芯片安装在PCB板的效率。因此，上述结构极大地提高了主控芯片的测试效率。

技术领域

本实用新型涉及到半导体领域，特别是涉及到一种芯片测试架。

背景技术

以前测试人员测试成品主控芯片时，需要将主控芯片焊接到测试架的PCB板上。主控芯片具有多个芯片引脚，且引脚之间的距离也离得近，因此焊接时费时费力，或者容易弄坏芯片引脚，导致焊接失败。因此，当测试人员测试主控芯片有问题时，需要判断该问题是出自人为焊接，还是主控芯片本身具有问题。测试人员无法直接排除人为焊接问题，因此需在测试芯片过程增加判断人为焊接问题的测试工序，极大地延长了测试时间。综上，现有主控芯片的测试效率有待提高。

实用新型内容

本实用新型的主要目的为提供一种芯片测试架，旨在解决提升现有主控芯片的测试效率。

本实用新型提供一种芯片测试架，包括：电源接口、USB接口、主控芯片组件、主控插针板、PCB板、闪存芯片，以及闪存芯片底座；

USB接口设置在PCB板上；

电源接口设置在PCB板上，以给PCB板上的各部件通电；

闪存芯片底座设置在PCB板一端面；

闪存芯片设置在闪存芯片底座上；

PCB板远离闪存芯片的一端面设置有主控插针板；

主控芯片组件一端设有插针脚，插针脚与主控插针板配合，实现两者的活动连接。

优选的，芯片组件包括主控芯片底座和主控芯片；

主控芯片相对的两端设有引脚；

主控芯片底座相对的两端设有引脚定位槽；

引脚与引脚定位槽配合，实现主控芯片与主控芯片底座的活动连接。

优选的，主控芯片底座远离引脚定位槽的一端的侧壁设有缺口；

缺口的底部相对PCB板的高度高于引脚定位槽所在的平面。

优选的，芯片测试架还包括电源开关；

PCB板上设有多组闪存芯片底座以及闪存芯片；

各闪存芯片分别设置在闪存芯片底座上；

PCB板远离闪存芯片的一端设有多组主控芯片组件，主控芯片组件的数量与闪存芯片相同；

各主控芯片组件的一端分别设有一电源开关，以控制外接电源给芯片测试架供电与断电；

各芯片组件分别与各闪存芯片电连接，以实现测试主控芯片。

优选的，电源开关相对PCB板的高度高于芯片组件相对PCB板的高度，且电源开关与芯片组件位于PCB板的同一水平线。

优选的，主控芯片以预设角度倾斜设置于主控芯片底座。

优选的，预设角度范围为30°至45°。

优选的，主控芯片底座相对主控插针板的一端设有定位柱，且定位柱远离插针脚设置；