[实用新型]一种半导体标准器件特性测试盒

权利要求书

1.一种半导体标准器件特性测试盒，具有与测试仪器四个测试接口相对应的四个三同轴插座，其特征在于，所述四个三同轴插座设置在一个金属屏蔽盒上，所述金属屏蔽盒至少设置有一个引线卡槽，在金属屏蔽盒内设置有线路板，线路板上安装有处理器芯片，引线卡槽的引线脚插入线路板，引线卡槽的引线脚中的部分引脚在线路板通过印刷线路与处理器芯片的引脚相连接，三同轴插座的屏蔽线和中心信号引线通过线路板印刷线路连接引线卡槽的引线脚，引线卡槽配有可更换的多个半导体标准器件插板，半导体标准器件插板设置有与引线卡槽相配的插脚，在不同的半导体标准器件插板上设置有对应不同半导体标准器件的插脚短接线，在引线卡槽中插入不同的半导体标准器件插板，不同插脚短接线通过卡槽引线脚与处理器芯片的连接形成输出不同半导体标准器件参数的测试电路。

2.根据权利要求1所述的半导体标准器件特性测试盒，其特征在于，所述引线卡槽是带有方向识别槽口的防误插卡槽。

3.根据权利要求1所述的半导体标准器件特性测试盒，其特征在于，所述处理器芯片是型号为LQFP128处理器芯片。

4.根据权利要求1所述的半导体标准器件特性测试盒，其特征在于，在所述金属屏蔽盒上还设置有一个分离器件接入端子，分离器件接入端子引线连接至线路板上的引线卡槽引线脚。