[实用新型]一种半导体标准器件特性测试盒

说明书

本实用新型公开了一种半导体标准器件特性测试盒，具有与测试仪器四个测试接口相对应的四个三同轴插座，所述四个三同轴插座设置在一个金属屏蔽盒上，所述金属屏蔽盒至少设置有一个引线卡槽，在金属屏蔽盒内设置有线路板，线路板上安装有处理器芯片，引线卡槽的引线脚插入线路板，引线卡槽的引线脚中的部分引脚在线路板通过印刷线路与处理器芯片的引脚相连接，引线卡槽配有可更换的多个半导体标准器件插板，在不同的半导体标准器件插板上设置有对应不同半导体标准器件的插脚短接线，在引线卡槽中插入不同的半导体标准器件插板，不同插脚短接线通过卡槽引线脚与处理器芯片的连接形成输出不同半导体标准器件参数的测试电路。

技术领域

本实用新型涉及一种半导体标准器件特性测试盒。

背景技术

半导体科学在现代科学技术中占有极其重要的地位，它广泛应用于国民经济的各个领域中，它的发展推动着人类社会的进步和物质文化水平的提高，如今兴起的半导体产业越来越受到各国的重视。中国已经成为全球第一大半导体市场，并保持着持续的增长速度。随着半导体产业的兴起，随之产生了许多的半导体公司以及各式各样的半导体参数测试仪器，它们的功能、使用方法、都不相同。

对于半导体测试仪器人们注重的是它测量结果的准确性，校准是每个半导体参数测试仪器必不可少的过程。而多数半导体参数仪器的校准都是通过特定的校准片来完成的。由于半导体器件分析仪自身体积过大，精度高，拆卸繁琐，送往计量机构过程中难免会遇到磕碰等各种问题,可能会导致测量结果不准确，因此，急需一种可匹配多种半导体参数测试仪器的校准器件测试盒来提供校准和标准器件测试。

发明内容

本实用新型的目的在于提出一种半导体标准器件特性测试盒，半导体标准器件特性测试盒测试标准器件测试出的数据参数可以为校准参数，从而可实现对半导体参数测试仪器的校准。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案是：一种半导体标准器件特性测试盒，具有与测试仪器四个测试接口相对应的四个三同轴插座，其中，所述四个三同轴插座设置在一个金属屏蔽盒上，所述金属屏蔽盒至少设置有一个引线卡槽，在金属屏蔽盒内设置有线路板，线路板上安装有处理器芯片，引线卡槽的引线脚插入线路板，引线卡槽的引线脚中的部分引脚在线路板通过印刷线路与处理器芯片的引脚相连接，三同轴插座的屏蔽线和中心信号引线通过线路板印刷线路连接引线卡槽的引线脚，引线卡槽配有可更换的多个半导体标准器件插板，半导体标准器件插板设置有与引线卡槽相配的插脚，在不同的半导体标准器件插板上设置有对应不同半导体标准器件的插脚短接线，在引线卡槽中插入不同的半导体标准器件插板，不同插脚短接线通过卡槽引线脚与处理器芯片的连接形成输出不同半导体标准器件参数的测试电路。

方案进一步是：所述引线卡槽是带有方向识别槽口的防误插卡槽。

方案进一步是：所述集成电路芯片是型号为LQFP128处理器芯片。

方案进一步是：在所述金属屏蔽盒上还设置有一个分离器件接入端子，分离器件接入端子引线连接至线路板上的引线卡槽引线脚。

本实用新型的有益效果：

1.插槽式结构，将要测量的标准器件插入对应的卡槽，检测仪输出的半导体标准器件参数即可实现对多种标准器件的测量，包括封装好的PMOS、NMOS、RESISTOR、NPN、PNP、DIODE、CMIM、CAPACITOR、等标准器件，同时也可以测量分立外接器件如陶瓷电容、电解电容、电阻、2N7000类型MOS管等等，只需将要测量的分立器件固定到我们配备的外接夹具上，然后将夹具插入到接线端子在将测量卡插入对应卡槽即可测量。

2.测试盒通过金属外壳来屏蔽有效信号和一系列物理设计和PCB设计从而达到屏蔽保护的作用，可测量极小电流。屏蔽使金属导体壳内的处理器工作环境不受外部电场影响，也不对外部电场产生影响。

下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细描述。

附图说明