[实用新型]一种微位移复合测量装置

权利要求书

1.一种微位移复合测量装置，其特征在于：包括支撑架，所述支撑架的上侧固定连接有连接架，支撑架上连接有可升降的底板，所述连接架上可转动地连接有用于安装透镜的透镜支架和用于安装激光笔的安装支架，激光笔发射出的光线照射在底板上，所述透镜的中心线和光源的轴线在一个平面内，远离安装支架的透镜支架所在一端朝外的连接架上固定连接有固定支架和可转动地连接有调节支架，所述调节支架上可滑动地连接有第一平面镜，所述固定支架上连接有可上下滑动的第二平面镜，所述第一平面镜的反射面和第二平面镜的反射面相对设置，所述第一平面镜上方的连接架上连接有朝向第二平面镜的照相设备。

2.根据权利要求1所述的一种微位移复合测量装置，其特征在于：所述支撑架的上部开有升降孔，支撑架的下侧固定连接有升降电机，所述升降电机上设有转动轴，转动轴向上伸出，转动轴上螺纹连接有升降板，升降板的下侧排布有呈矩形布置的四个导向杆，导向杆可沿着升降架的下部上下滑动，底板固定连接在升降板的上方，底板可向上穿过升降孔。

3.根据权利要求1所述的一种微位移复合测量装置，其特征在于：所述连接架的后侧固定连接有驱动电机，所述驱动电机的输出轴与调节支架连接。

4.根据权利要求1～3任一项所述的一种微位移复合测量装置，其特征在于：还包括限位件一，所述限位件一包括水平部一，所述水平部一的两侧分别设有水平部二和水平部三，所述水平部一朝向第一平面镜的一侧连接有限位部一，第一平面镜的下侧抵触在限位部一的上侧，所述调节支架在前后方向上的两侧分别设有滑动轨一，水平部二可沿着调节支架前侧的滑动轨一滑动，水平部三可沿着调节支架后侧的滑动轨一滑动，水平部二和水平部三分别贴合在调节支架的前后两侧；所述水平部一上开有方便与调节支架连接的连接孔。

5.根据权利要求1～3任一项所述的一种微位移复合测量装置，其特征在于：还包括限位件二，所述限位件二包括滑动部，所述滑动部朝向第二平面镜的一侧连接有限位部二，所述第二平面镜抵触在限位部的上侧，所述连接架的左侧设有滑动轨二，滑动部可沿着滑动轨二滑动，滑动部贴合在连接架的左侧，滑动轨二两侧朝外的滑动部上分别开有至少一个方便与连接架连接的固连孔。

6.根据权利要求5所述的一种微位移复合测量装置，其特征在于：所述滑动部上固定连接有朝向第二平面镜的加强部，所述加强部上开有至少一个与连接架连接的加固孔。

7.根据权利要求2所述的一种微位移复合测量装置，其特征在于：所述导向杆的下侧设有防止导向杆继续向上滑动的下限位阶，下限位阶可抵触在支撑架下侧；转动轴的上侧设有限制升降板继续上升的上限位阶，上限位阶可抵触在升降板上侧。