[实用新型]一种微位移复合测量装置

说明书

本实用新型提供了测量技术领域内的一种微位移复合测量装置，包括支撑架，支撑架的上侧固定连接有连接架，支撑架上连接有可升降的底板，连接架上可转动地连接有用于安装透镜的透镜支架和用于安装激光笔的安装支架，激光笔发射出的光线照射在底板上，透镜的中心线和光源的轴线在一个平面内，远离安装支架的透镜支架所在一端朝外的连接架上固定连接有固定支架和可转动地连接有调节支架，调节支架上可滑动地连接有第一平面镜，固定支架上连接有可上下滑动的第二平面镜，第一平面镜的反射面和第二平面镜的反射面相对设置，第一平面镜上方的连接架上连接有朝向第二平面镜的照相设备；本实用新型分辨率高，提高测量精度。

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，特别涉及一种微位移复合测量装置。

背景技术

随着加工制造技术的不断发展，对微位移非接触的测量装置的需求不断提高。现有技术中，经常使用激光三角法非接触测量物体的微位移，使用该方法检测时，激光笔发出光线照射在物体上侧，照射在物体上侧的光线经过透镜成像折射出去，在一个投影板上形成光斑，照相设备拍下投影板上的光斑，得到光斑的位置坐标，但是光斑很小，当物体有微位移时，光斑位置基本重叠在一起，根本无法辨别，分辨率不高，测量精度很低。

实用新型内容

针对现有技术中的缺陷，本实用新型的目的在于解决现有技术中分辨率不高的技术问题，提供一种微位移复合测量装置，此装置结构简单，分辨率高，提高测量精度。

本实用新型的目的是这样实现的：一种微位移复合测量装置，包括支撑架，所述支撑架的上侧固定连接有连接架，支撑架上连接有可升降的底板，所述连接架上可转动地连接有用于安装透镜的透镜支架和用于安装激光笔的安装支架，激光笔发射出的光线照射在底板上，所述透镜的中心线和光源的轴线在一个平面内，远离安装支架的透镜支架所在一端朝外的连接架上固定连接有固定支架和可转动地连接有调节支架，所述调节支架上可滑动地连接有第一平面镜，所述固定支架上连接有可上下滑动的第二平面镜，所述第一平面镜的反射面和第二平面镜的反射面相对设置，所述第一平面镜上方的连接架上连接有朝向第二平面镜的照相设备。

本实用新型中，在高度方向上，第一平面镜的上侧不低于第二平面镜的上侧，第一平面镜的上侧低于照相机的照相镜头的最高点所在位置；透镜支架可转动地连接在连接架上；转动安装支架，即调节激光器发射出去的光线角度，调节完安装支架的角度后，固定安装支架，转动透镜支架，使反射出去的光线通过透镜，底板上没有用于反射光线的物体时，激光器发射出去的光线照射到底板上，底板将光线反射通过透镜，调节底板的高度，使反射出去的光线经过透镜，转动调节支架，使成像点清晰地成像在第一平面镜上，停止转动调节支架，第一平面镜将清晰的成像点反射至第二平面镜，第二平面镜再将光线反射到第一平面镜上，成像点位置经过多次反射后被放大，放大后的成像点在第二平面镜上，此时，使用相机拍摄坐标位置，方便后期的图像处理；本实用新型结构简单，将激光三角和光杠杆测量结合起来，经过透镜反射出去的光线能在第一平面镜上清晰地成像，经过第一平面镜和第二平面镜的多次反射，放大了成像点的位置坐标，使成像点更加容易区分，在底板上放置待测物体，物体的厚度有微位移时，照相设备中成像的光斑位置也能明显区分开，方便微位移测量；可应用于光学测量的工作中。

为了进一步实现底板的升降，所述支撑架的上部开有升降孔，支撑架的下侧固定连接有升降电机，所述升降电机上设有转动轴，转动轴向上伸出，转动轴上螺纹连接有升降板，升降板的下侧排布有呈矩形布置的四个导向杆，导向杆可沿着升降架的下部上下滑动，底板固定连接在升降板的上方，底板可向上穿过升降孔。

为了实现成像面的角度调整，所述连接架的后侧固定连接有驱动电机，所述驱动电机的输出轴与调节支架连接。