[实用新型]一种红外光敏三极管芯片结构有效

专利信息
申请号: 201921386000.4 申请日: 2019-08-23
公开(公告)号: CN210092111U 公开(公告)日: 2020-02-18
发明(设计)人: 李星男;江秉闰 申请(专利权)人: 深圳市星华灿科技有限公司
主分类号: H01L31/11 分类号: H01L31/11;H01L31/0224;H01L31/0352
代理公司: 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 代理人: 何兵;饶盛添
地址: 518000 广东省深圳市宝安区西乡街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 光敏 三极管 芯片 结构
【权利要求书】:

1.一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,包括:

背金层,形成集电极;

外延片,所述外延片的型号为N<100>,所述外延片包括外延层和外延衬底,所述外延衬底覆盖在所述背金层上,由N型CZ硅单晶制成,所述外延层覆盖在所述外延衬底上,所述外延层的厚度为30-40μm,电阻率为10-16Ω·cm,所述外延层远离外延衬底设有基区和发射区,所述发射区设置在所述基区内;

氧化层,覆盖在所述外延层上,所述氧化层的厚度为

氮化硅膜,覆盖在所述氧化层上,所述氮化硅膜的厚度为折射率为1.9-2.1,所述发射区连接有发射极,所述发射极穿透所述氧化层和所述氮化硅膜向外。

2.根据权利要求1所述的一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,所述外延层外围设有等位环。

3.根据权利要求1所述的一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,所述背金层减薄时的保留厚度为280-320μm。

4.根据权利要求1所述的一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,所述发射极为铝电极。

5.根据权利要求1所述的一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,所述基区通过预氧化二氧化硅的生长厚度为

6.根据权利要求1所述的一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,所述基区通过低压力化学气相沉积法二氧化硅的沉积厚度为

7.根据权利要求1所述的一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,所述发射区的二氧化硅生长厚度为

8.根据权利要求1所述的一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,所述外延衬底的电阻率为0.005-0.015Ω·cm。

9.根据权利要求1所述的一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,所述背金层远离所述外延片依次为Ti、Ni、Ag、Sn。

10.根据权利要求9所述的一种红外光敏三极管芯片结构,其特征在于,所述Ti、所述Ni、所述Ag、所述Sn的厚度分别为

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