[实用新型]一种降低焊线高度的封装装置有效
申请号: | 201921424937.6 | 申请日: | 2019-08-29 |
公开(公告)号: | CN210156357U | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 黄浩;李倩 | 申请(专利权)人: | 无锡通芝微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 孙建 |
地址: | 214028 江苏省无锡市高新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 降低 高度 封装 装置 | ||
本实用新型公开了一种降低焊线高度的封装装置,包括上模具和下模具,所述下模具的顶部卡接固定有上模具,所述上模具和下模具组成的型腔内部固定有外封装盒,所述外封装盒的对应两侧焊接固定有贯穿外封装盒的内引脚,且两个内引脚之间通过焊线连接,所述外封装盒的底部内壁中心处焊接固定有载片台,所述载片台的顶部中心处设置有垫片,所述垫片的顶部中心处设置有芯片,所述外封装盒上开设有与下模具上的注塑孔连通的通孔,所述通孔与注塑机连接。本实用新型结构新颖,构思巧妙,采用叠装芯片工艺,在芯片下方追加垫片,降低导线回路高度落差,增加焊线的稳定性。
技术领域
本实用新型涉及LED封装技术领域,具体为一种降低焊线高度的封装装置。
背景技术
LED(半导体发光二极管)封装是指发光芯片的封装,相比集成电路封装有较大不同。LED的封装不仅要求能够保护灯芯,而且还要能够透光。所以LED的封装对封装材料有特殊的要求。
但是LED封装的过程中上模具和下模具打开,流动的塑封料对焊线有冲击力,焊线与芯片连接形成导线回路,如果焊线形成的导线回路高度落差较大,则容易被冲击变形。因此,设计一种降低焊线高度的封装装置是很有必要的。
实用新型内容
针对上述情况,为克服现有技术的缺陷,本实用新型提供一种降低焊线高度的封装装置,该装置结构新颖,构思巧妙,采用叠装芯片工艺,在芯片下方追加垫片,降低导线回路高度落差,增加焊线的稳定性。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种降低焊线高度的封装装置,包括上模具和下模具,所述下模具的顶部卡接固定有上模具,所述上模具和下模具组成的型腔内部固定有外封装盒,所述外封装盒的对应两侧焊接固定有贯穿外封装盒的内引脚,且两个内引脚之间通过焊线连接,所述外封装盒的底部内壁中心处焊接固定有载片台,所述载片台的顶部中心处设置有垫片,所述垫片的顶部中心处设置有芯片,所述外封装盒上开设有与下模具上的注塑孔连通的通孔,所述通孔与注塑机连接。
优选的,所述注塑机包括注塑筒、注射出料机构、注塑头和电热机构,所述注塑筒的内部通过螺栓固定有注射出料机构,所述注塑筒的顶部一侧设置有注塑头,且注塑头插接固定在通孔的内部,所述注塑头上套接固定有电热机构。
优选的,所述电热机构包括电热管、固定座、隔热外壳、第一线圈、第二线圈和定时器,所述电热管的对应两端焊接固定有固定座,所述固定座上卡接固定有隔热外壳,所述电热管上位于隔热外壳的底部交叉缠绕有第一线圈和第二线圈,所述第一线圈和第二线圈均与定时器电性连接。
优选的,所述外封装盒为一种树脂材料构件。
优选的,所述垫片为一种硅垫片。
本实用新型的有益效果为:注射出料机构工作,将注塑筒内部的塑封料通过注塑头穿过通孔注入到外封装盒的内部,塑封料在外封装盒中固化,上模具和下模具打开,流动的塑封料对焊线有冲击力,焊线与芯片连接形成导线回路,如果焊线形成的导线回路高度落差较大,则容易被冲击变形,采用叠装芯片工艺,在芯片下方追加垫片,降低导线回路高度落差,增加焊线的稳定性。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:
图1是本实用新型整体平面结构示意图;
图2是本实用新型注塑机平面结构示意图;
图3是本实用新型电热机构剖视结构示意图;
图中标号:1、上模具;2、下模具;3、外封装盒;4、焊线;5、内引脚;6、载片台;7、垫片;8、芯片;9、通孔;10、注塑机;11、注塑筒;12、注射出料机构;13、注塑头;14、电热机构;15、电热管;16、固定座;17、隔热外壳;18、第一线圈;19、第二线圈;20、定时器。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造