[实用新型]一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片有效

专利信息
申请号: 201921456797.0 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN210467837U 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 陆怀谷 申请(专利权)人: 深圳市谷峰电子有限公司;香港谷峰半导体有限公司
主分类号: H01L27/07 分类号: H01L27/07;H01L29/739
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 518000 广东省深圳市宝安区49区河*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成 肖特基 二极管 新型 沟槽 igbt 芯片
【权利要求书】:

1.一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片,包括底层的背P+发射区(4),在背P+发射区(4)上方依次设有N+缓冲层(3)以及N-型基区(1),在N-型基区(1)上方设有两个N-型基区(1)凸起,在两个N-型基区(1)凸起上方依次设有P型基区(2)以及N+集电区(5),在N+集电区(5)、P型基区(2)和N-型基区(1)外侧覆盖有栅氧化层(6),栅氧化层(6)外侧沟槽填充有多晶栅(7),多晶栅(7)被两个N-型基区(1)凸起分割为中间沟槽多晶栅(7)以及外侧沟槽多晶栅(7),栅电极(10)和外侧沟槽多晶栅(7)连接,集电极(8)和背P+发射区(4)连接,其特征在于:发射极(9)贯穿N+集电区(5)深入P型基区(2),中间沟槽多晶栅(7)接触的栅氧化层(6)变薄形成薄栅氧化层(12),肖特基中间栅电极(11)连接N+集电区(5)、薄栅氧化层(12)以及和中间沟槽多晶栅(7)。

2.根据权利要求1所述的一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片,其特征在于:所述发射极(9)使用势垒较高的金属,所述势垒较高的金属是钛。

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