[实用新型]一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片有效

专利信息
申请号: 201921456797.0 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN210467837U 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 陆怀谷 申请(专利权)人: 深圳市谷峰电子有限公司;香港谷峰半导体有限公司
主分类号: H01L27/07 分类号: H01L27/07;H01L29/739
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 518000 广东省深圳市宝安区49区河*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 集成 肖特基 二极管 新型 沟槽 igbt 芯片
【说明书】:

本实用新型涉及一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片,包括底层的背P+发射区,在背P+发射区上方依次设有N+缓冲层以及N‑型基区,在N‑型基区上方设有两个N‑型基区凸起,在两个N‑型基区凸起上方依次设有P型基区以及N+集电区,在N+集电区、P型基区和N‑型基区外侧覆盖有栅氧化层,栅氧化层外侧沟槽填充有多晶栅,多晶栅被两个N‑型基区凸起分割为中间沟槽多晶栅以及外侧沟槽多晶栅,栅电极和外侧沟槽多晶栅连接,集电极和背P+发射区连接,发射极贯穿N+集电区深入P型基区,中间沟槽多晶栅接触的栅氧化层变薄形成薄栅氧化层,肖特基中间栅电极连接N+集电区、薄栅氧化层以及和中间沟槽多晶栅。有益效果是可以提高沟槽IGBT芯片开关速度。

【技术领域】

本实用新型涉及半导体技术领域,具体涉及一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片。

【背景技术】

IGBT,中文名字为绝缘栅双极型晶体管,它是由MOSFET(输入级)和 PNP晶体管(输出级)复合而成的一种器件,既有MOSFET器件驱动功率小和开关速度快的特点(控制和响应),又有双极型器件饱和压降低而容量大的特点(功率级较为耐用),频率特性介于MOSFET与功率晶体管之间,可正常工作于几十kHz频率范围内。与平面栅IGBT相比,沟槽栅IGBT能显著改善通态压降与关断能量的折衷关系,更适用于中低压高频应用领域。

肖特基二极管是以其发明人肖特基博士(Schottky)命名的,SBD是肖特基势垒二极管(SchottkyBarrierDiode,缩写成SBD)的简称。SBD不是利用P 型半导体与N型半导体接触形成PN结原理制作的,而是利用金属与半导体接触形成的金属-半导体结原理制作的。因此,SBD也称为金属-半导体(接触) 二极管或表面势垒二极管,它是一种热载流子二极管。SBD的主要优点包括两个方面:1)由于肖特基势垒高度低于PN结势垒高度,故其正向导通门限电压和正向压降都比PN结二极管低(约低0.2V);2)由于SBD是一种多数载流子导电器件,不存在少数载流子寿命和反向恢复问题。SBD的反向恢复时间只是肖特基势垒电容的充、放电时间,完全不同于PN结二极管的反向恢复时间。由于SBD的反向恢复电荷非常少,故开关速度非常快,开关损耗也特别小,尤其适合于高频应用。

现有的常规沟槽式IGBT芯片,其具体结构如附图1所示:一种常规沟槽IGBT芯片,包括底层的背P+发射区4,在背P+发射区4上方依次设有N+ 缓冲层3以及N-型基区1,N-型基区1设有两个N-型基区1凸起,在两个N- 型基区1凸起上方依次设有P型基区2以及N+集电区5,在N+集电区5、P 型基区2和N-型基区1外侧覆盖有栅氧化层6,栅氧化层6外侧沟槽填充有多晶栅7,多晶栅7被两个N-型基区1凸起分割为中间沟槽多晶栅7以及外侧沟槽多晶栅7,栅电极10和外侧沟槽多晶栅7连接,集电极8和背P+发射区4 连接,发射极9贯穿N+集电区5接触P型基区2,中间栅电极13连接中间沟槽多晶栅7。由于存在多数载流子、少数载流子恢复问题,上述IGBT芯片的开关速度较慢。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是,提供一种可以提高沟槽IGBT芯片开关速度的新型沟槽IGBT芯片。

为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案是一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片,包括底层的背P+发射区,在背P+发射区上方依次设有 N+缓冲层以及N-型基区,在N-型基区上方设有两个N-型基区凸起,在两个 N-型基区凸起上方依次设有P型基区以及N+集电区,在N+集电区、P型基区和N-型基区外侧覆盖有栅氧化层,栅氧化层外侧沟槽填充有多晶栅,多晶栅被两个N-型基区凸起分割为中间沟槽多晶栅以及外侧沟槽多晶栅,栅电极和外侧沟槽多晶栅连接,集电极和背P+发射区连接,发射极贯穿N+集电区深入 P型基区,中间沟槽多晶栅接触的栅氧化层变薄形成薄栅氧化层,肖特基中间栅电极连接N+集电区、薄栅氧化层以及和中间沟槽多晶栅。

优选地,上述发射极使用势垒较高的金属。

优选地,上述势垒较高的金属是钛。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市谷峰电子有限公司;香港谷峰半导体有限公司,未经深圳市谷峰电子有限公司;香港谷峰半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201921456797.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top