[实用新型]一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片有效
申请号: | 201921456797.0 | 申请日: | 2019-09-04 |
公开(公告)号: | CN210467837U | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 陆怀谷 | 申请(专利权)人: | 深圳市谷峰电子有限公司;香港谷峰半导体有限公司 |
主分类号: | H01L27/07 | 分类号: | H01L27/07;H01L29/739 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区49区河*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成 肖特基 二极管 新型 沟槽 igbt 芯片 | ||
本实用新型涉及一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片,包括底层的背P+发射区,在背P+发射区上方依次设有N+缓冲层以及N‑型基区,在N‑型基区上方设有两个N‑型基区凸起,在两个N‑型基区凸起上方依次设有P型基区以及N+集电区,在N+集电区、P型基区和N‑型基区外侧覆盖有栅氧化层,栅氧化层外侧沟槽填充有多晶栅,多晶栅被两个N‑型基区凸起分割为中间沟槽多晶栅以及外侧沟槽多晶栅,栅电极和外侧沟槽多晶栅连接,集电极和背P+发射区连接,发射极贯穿N+集电区深入P型基区,中间沟槽多晶栅接触的栅氧化层变薄形成薄栅氧化层,肖特基中间栅电极连接N+集电区、薄栅氧化层以及和中间沟槽多晶栅。有益效果是可以提高沟槽IGBT芯片开关速度。
【技术领域】
本实用新型涉及半导体技术领域,具体涉及一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片。
【背景技术】
IGBT,中文名字为绝缘栅双极型晶体管,它是由MOSFET(输入级)和 PNP晶体管(输出级)复合而成的一种器件,既有MOSFET器件驱动功率小和开关速度快的特点(控制和响应),又有双极型器件饱和压降低而容量大的特点(功率级较为耐用),频率特性介于MOSFET与功率晶体管之间,可正常工作于几十kHz频率范围内。与平面栅IGBT相比,沟槽栅IGBT能显著改善通态压降与关断能量的折衷关系,更适用于中低压高频应用领域。
肖特基二极管是以其发明人肖特基博士(Schottky)命名的,SBD是肖特基势垒二极管(SchottkyBarrierDiode,缩写成SBD)的简称。SBD不是利用P 型半导体与N型半导体接触形成PN结原理制作的,而是利用金属与半导体接触形成的金属-半导体结原理制作的。因此,SBD也称为金属-半导体(接触) 二极管或表面势垒二极管,它是一种热载流子二极管。SBD的主要优点包括两个方面:1)由于肖特基势垒高度低于PN结势垒高度,故其正向导通门限电压和正向压降都比PN结二极管低(约低0.2V);2)由于SBD是一种多数载流子导电器件,不存在少数载流子寿命和反向恢复问题。SBD的反向恢复时间只是肖特基势垒电容的充、放电时间,完全不同于PN结二极管的反向恢复时间。由于SBD的反向恢复电荷非常少,故开关速度非常快,开关损耗也特别小,尤其适合于高频应用。
现有的常规沟槽式IGBT芯片,其具体结构如附图1所示:一种常规沟槽IGBT芯片,包括底层的背P+发射区4,在背P+发射区4上方依次设有N+ 缓冲层3以及N-型基区1,N-型基区1设有两个N-型基区1凸起,在两个N- 型基区1凸起上方依次设有P型基区2以及N+集电区5,在N+集电区5、P 型基区2和N-型基区1外侧覆盖有栅氧化层6,栅氧化层6外侧沟槽填充有多晶栅7,多晶栅7被两个N-型基区1凸起分割为中间沟槽多晶栅7以及外侧沟槽多晶栅7,栅电极10和外侧沟槽多晶栅7连接,集电极8和背P+发射区4 连接,发射极9贯穿N+集电区5接触P型基区2,中间栅电极13连接中间沟槽多晶栅7。由于存在多数载流子、少数载流子恢复问题,上述IGBT芯片的开关速度较慢。
【实用新型内容】
本实用新型的目的是,提供一种可以提高沟槽IGBT芯片开关速度的新型沟槽IGBT芯片。
为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案是一种集成肖特基二极管的新型沟槽IGBT芯片,包括底层的背P+发射区,在背P+发射区上方依次设有 N+缓冲层以及N-型基区,在N-型基区上方设有两个N-型基区凸起,在两个 N-型基区凸起上方依次设有P型基区以及N+集电区,在N+集电区、P型基区和N-型基区外侧覆盖有栅氧化层,栅氧化层外侧沟槽填充有多晶栅,多晶栅被两个N-型基区凸起分割为中间沟槽多晶栅以及外侧沟槽多晶栅,栅电极和外侧沟槽多晶栅连接,集电极和背P+发射区连接,发射极贯穿N+集电区深入 P型基区,中间沟槽多晶栅接触的栅氧化层变薄形成薄栅氧化层,肖特基中间栅电极连接N+集电区、薄栅氧化层以及和中间沟槽多晶栅。
优选地,上述发射极使用势垒较高的金属。
优选地,上述势垒较高的金属是钛。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的