[实用新型]一种传送晶圆的陶瓷机械手臂有效
申请号: | 201921465223.X | 申请日: | 2019-09-04 |
公开(公告)号: | CN210379002U | 公开(公告)日: | 2020-04-21 |
发明(设计)人: | 欧阳创锦;官毅华 | 申请(专利权)人: | 深圳市海德精密陶瓷有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/687;H01L21/68 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 传送 陶瓷 机械 手臂 | ||
一种传送晶圆的陶瓷机械手臂,包括仪器本体和位于仪器本体一侧的抓取机构,抓取机构包括承载部、位于承载部底部的吸附部和位于承载部一侧的安装部,承载部包括承载晶圆的定位槽和防止晶圆上下晃动的定位块,定位槽边缘的一侧开设有滑槽,定位块滑动连接于滑槽,定位块的一侧安装有驱动所述定位块滑动的电子伸缩杆。在运输晶圆的过程中,定位槽对晶圆具有限位的作用,避免了机械手臂运输时速度过快造成晶圆的位置滑动偏移,影响到后续的加工。通过定位槽与定位块的设置,使承载部在运输晶圆的过程中,能更好的给晶圆定位,避免其位置偏移,提高晶圆的合格率。
技术领域
本实用新型涉及半导体机械手技术领域,尤其是涉及一种传送晶圆的陶瓷机械手臂。
背景技术
目前随着半导体设备自动化程度的提高以及晶片多样化程度的加大,对半导体设备传输晶片所用的机械手的要求也愈来愈高。机械手被称为最早期的工业机器人,能模仿人手和手臂的某些动作功能,用以按固定程序抓取、搬运物件或操作工具的自动操作装置。在集成电路、芯片制造等半导体行业中,大量使用机械手运送传输硅片晶圆。
在授权公告号为CN105428290B的中国发明专利中,公开了一种晶圆传输装置及其真空吸附机械手,通过机械手的运动,可以实现搬运晶圆。该真空吸附机械手包括:手臂;固定在所述手臂上的吸附绝缘凸台;设置在所述手臂和吸附绝缘凸台内的真空气道;所述吸附绝缘凸台用于吸附待传送晶圆的背面,所述吸附绝缘凸台的硬度小于所述待传送晶圆的背面的硬度。由于吸附绝缘凸台的硬度小于待传送晶圆的背面的硬度,故利用真空吸附机械手将晶圆传送至所需位置之后,晶圆的背面中与真空吸附机械手接触的位置不会形成印记,提高了晶圆的合格率。
但上述中的现有技术方案存在以下缺陷:由于机械手臂长期使用后会产生一定的磨损,在搬运晶圆的过程中,机械手臂会产生上下的晃动,使得晶圆在搬运的过程中会相对于手臂发生滑动,造成晶圆偏移,导致后续加工时,晶圆的位置不精确,造成加工后的晶圆不合格。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种传送晶圆的陶瓷机械手臂,其优势在于通过对机械手臂的结构进行改变,使其在运输的过程中能更好的给晶圆定位,避免晶圆在上下晃动的过程中,发生位置偏移,提高了晶圆的合格率。
本实用新型的上述实用新型目的是通过以下技术方案得以实现的:
一种传送晶圆的陶瓷机械手臂,包括仪器本体和位于仪器本体一侧的抓取机构,抓取机构包括承载部、位于所述承载部底部的吸附部和位于所述承载部一侧的安装部,所述承载部包括承载晶圆的定位槽和防止晶圆上下晃动的定位块,所述定位槽边缘的一侧开设有滑槽,所述定位块滑动连接于所述滑槽,所述定位块的一侧安装有驱动所述定位块滑动的电子伸缩杆。
通过采用上述技术方案,在运输晶圆的过程中,定位槽对晶圆具有限位的作用,避免了机械手臂运输时速度过快,造成晶圆的上下晃动而产生偏移,影响到后续的加工。通过增加定位块与电子伸缩杆,电子伸缩杆的活塞杆伸长时,可带动定位块的滑动,使得定位块伸出滑槽,实现定位块与晶圆贴合,对晶圆进行锁定,防止晶圆上下晃动时。通过定位槽与定位块的设置,使承载部在运输晶圆的过程中,能更好的给晶圆定位,避免其位置偏移,提高晶圆的合格率。
作为优选,所述定位槽的顶部设置有导向槽一。
通过采用上述技术方案,在承载部承载晶圆的过程中,由于机械的磨损,会使得承载部运动的位置发生细微的偏移,进而造成晶圆偏移定位槽。通过设置导向槽一,使得晶圆会落入到导向槽一内,再通过导向槽一的导向作用,使得晶圆落入到定位槽内。
作为优选,所述滑槽为T型的槽,所属定位块为T型的块。
通过采用上述技术方案,通过T型的槽与T型的块设置,使得定位块在滑槽内滑动时的平稳性较好,方便了滑块的滑动。
作为优选,所述定位块的底部安装有便于所属定位块滑动的滚珠。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造