[实用新型]一种用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置有效
申请号: | 201921476538.4 | 申请日: | 2019-09-05 |
公开(公告)号: | CN210803663U | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 余金隆;庄家铭 | 申请(专利权)人: | 佛山市国星半导体技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/26;G01R1/02 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫;李素兰 |
地址: | 528200 广东省佛山市南海区狮*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 检测 led 芯片 水解 能力 装置 | ||
1.一种用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置,其特征在于,包括沟槽基板、水解试剂、探针卡和电源,LED芯片固定在沟槽基板上,所述水解试剂将LED芯片覆盖,所述探针卡与LED芯片的正负极连接,所述电源与探针卡连接,以向LED芯片导入逆向电压。
2.如权利要求1所述的用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置,其特征在于,所述沟槽基板包括第一沟槽和第二沟槽,第一沟槽和第二沟槽交叉设置,第一沟槽和第二沟槽的交汇处设有凹陷区域,所述凹陷区域与第一沟槽和第二沟槽连通,所述LED芯片固定在凹陷区域。
3.如权利要求2所述的用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置,其特征在于,第一沟槽和第二沟槽相互垂直。
4.如权利要求3所述的用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置,其特征在于,所述沟槽基板包括多个第一沟槽和多个第二沟槽,形成矩阵型结构,可同时固定多个LED芯片进行检测。
5.如权利要求4所述的用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置,其特征在于,所述第一沟槽和第二沟槽的宽度相等。
6.如权利要求1所述的用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置,其特征在于,所述水解试剂为NaCl溶液、KCl溶液、RbCl溶液和CsCl溶液中的一种。
7.如权利要求1所述的用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置,其特征在于,所述探针卡为点测机台的探针。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佛山市国星半导体技术有限公司,未经佛山市国星半导体技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201921476538.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于变功率加热管的蒸汽发生器
- 下一篇:一种带有安全协议的快充数据线