[实用新型]一种用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置

说明书

本实用新型公开了种用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置，包括沟槽基板、水解试剂、探针卡和电源，LED芯片固定在沟槽基板上，所述水解试剂将LED芯片覆盖，所述探针卡与LED芯片的正负极连接，所述电源与探针卡连接，以向LED芯片导入逆向电压。本实用新型通过沟槽基板来固定LED芯片和承装水解试剂，确保了水解试剂可以覆盖LED芯片，其中，本实用新型通过水解试剂来提高电离速率，加速LED芯片水解，有效缩短检测时间。

技术领域

本实用新型涉及发光二极管技术领域，尤其涉及一种用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置。

背景技术

发光二极管，英文单词的缩写LED，主要含义：LED＝Light Emitting Diode，是一种能够将电能转化为可见光的固态的半导体器件，作为照明器件，相对传统照明器件，发光二极管有相当大优势——寿命长、光效高、无辐射、低功耗、绿色环保。目前LED主要用于显示屏、指示灯、背光源等领域。

由于LED产品经常应用在潮湿的环境或者户外，因此LED芯片在出厂时需要进行抗水解能力的测试。

现有LED芯片抗水解能力的检测方法，需要将LED芯片进行固晶、焊线、封胶等步骤封装成LED灯珠，然后将LED灯珠放到“温度85℃、湿度85％RH”的环境腔中，通逆向电压进行老化168小时以上，再测试判断是否失效，时间长达9天以上。此外，现有的检测方法受封装胶水、支架和封装工艺等因素的影响，可靠性较低。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题在于，提供一种用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置，结构简单，可快速检测LED芯片的抗水解能力。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种用于检测LED芯片抗水解能力的检测装置，其特征在于，包括沟槽基板、水解试剂、探针卡和电源，LED芯片固定在沟槽基板上，所述水解试剂将LED芯片覆盖，所述探针卡与LED芯片的正负极连接，所述电源与探针卡连接，以向LED芯片导入逆向电压。

作为上述方案的改进，所述沟槽基板包括第一沟槽和第二沟槽，第一沟槽和第二沟槽交叉设置，第一沟槽和第二沟槽的交汇处设有凹陷区域，所述凹陷区域与第一沟槽和第二沟槽连通，所述LED芯片固定在凹陷区域。

作为上述方案的改进，第一沟槽和第二沟槽相互垂直。

作为上述方案的改进，所述沟槽基板包括多个第一沟槽和多个第二沟槽，形成矩阵型结构，可同时固定多个LED芯片进行检测。

作为上述方案的改进，所述第一沟槽和第二沟槽的宽度相等。

作为上述方案的改进，所述水解试剂为NaCl溶液、KCl溶液、RbCl溶液和CsCl溶液中的一种。

实施本实用新型，具有如下有益效果：

本实用新型通过沟槽基板来固定LED芯片和承装水解试剂，确保了水解试剂可以覆盖LED芯片，其中，本实用新型通过水解试剂来提高电离速率，加速LED芯片水解，有效缩短检测时间。

此外，与传统抗水解能力检测方法相比，本实用新型的检测方法去除了封装胶水、支架和封装工艺的影响因素，能更准确的检测LED芯片自身的抗水解能力。

其次，本实用新型采用现有设备的的探针来向LED芯片通入逆向电压，不仅可以方便接入电源，还可以降低成本。

进一步地，本实用新型沟槽基板通过第一沟槽、第二沟槽和凹陷区域的相互配合，水解试剂可以从第一沟槽或第二沟槽注入，然后进入到凹陷区域，并将固定在凹陷区域内的LED芯片覆盖，多余的水解试剂也可以从第一沟槽或第二沟槽排走，确保水解试剂将LED芯片覆盖。

附图说明

图1是本实用新型检测装置的结构示意图；