[实用新型]紧缩场测试系统及其反射面

权利要求书

1.一种紧缩场测试系统，其特征在于，包括：

馈源、反射面和转台；

所述馈源包括馈源天线；

所述馈源天线的相位中心设置于所述反射面曲面的焦点；

所述转台用于承载被测件；

所述被测件设置于静区内；其中，

所述反射面包括反射面本体；

所述反射面本体包括抛物面，所述抛物面接收紧缩场中馈源发出的球面波，经过反射后产生的平面波发送至静区；

所述反射面本体的边沿设置有卷边，所述卷边的卷曲朝向与所述静区相反的方向。

2.根据权利要求1所述的紧缩场测试系统，其特征在于，

所述反射面本体为方形或矩形；

所述反射面本体相邻的两个卷边分别为第一卷边和第二卷边；

所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第一卷边的边沿所呈的夹角为θ满足：40°≤θ≤50°；

所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第二卷边的边沿所呈的夹角为γ满足：40°≤γ≤50°。

3.根据权利要求2所述的紧缩场测试系统，其特征在于，

所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第一卷边的边沿所呈的夹角θ＝45°；

所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第二卷边的边沿所呈的夹角γ＝45°。

4.根据权利要求3所述的紧缩场测试系统，其特征在于，

所述馈源、所述反射面和所述转台设置于柜体内；

所述柜体内壁设置有吸波结构。

5.根据权利要求4所述的紧缩场测试系统，其特征在于，

所述柜体外还设置有分析与控制装置，所述分析与控制装置包括：

雷达模拟器主机、频谱分析仪和转台控制器；

所述雷达模拟器主机与所述馈源连接；

所述频谱分析仪与所述雷达模拟器主机相连接；

所述转台控制器与所述转台连接。

6.根据权利要求5所述的紧缩场测试系统，其特征在于，还包括：

上位机；

所述雷达模拟器主机、所述频谱分析仪和所述转台控制器均与所述上位机连接。

7.根据权利要求1所述的紧缩场测试系统，其特征在于，

所述卷边的形状通过椭圆曲线拟合获取。

8.一种反射面，用于紧缩场测试系统，其特征在于，包括：

反射面本体；

所述反射面本体包括抛物面，所述抛物面接收紧缩场中馈源发出的球面波，经过反射后产生的平面波发送至静区；

所述反射面本体的边沿设置有卷边，所述卷边的卷曲朝向与所述静区相反的方向。

9.根据权利要求8所述的反射面，其特征在于，

所述反射面本体为方形或矩形；

所述反射面本体相邻的两个卷边分别为第一卷边和第二卷边；

所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第一卷边的边沿所呈的夹角为θ满足：40°≤θ≤50°；

所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第二卷边的边沿所呈的夹角为γ满足：40°≤γ≤50°。

10.根据权利要求9所述的反射面，其特征在于，

所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第一卷边的边沿所呈的夹角θ＝45°；

所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第二卷边的边沿所呈的夹角γ＝45°。