[实用新型]紧缩场测试系统及其反射面

说明书

本实用新型涉及一种紧缩场测试系统及其反射面。紧缩场测试系统包括馈源、反射面和转台；馈源包括馈源天线；馈源天线的相位中心设置于反射面曲面的焦点；转台用于承载被测件；被测件设置于静区内；其中，反射面包括反射面本体；反射面本体包括抛物面，抛物面接收紧缩场中馈源发出的球面波，经过反射后产生的平面波发送至静区；反射面本体的边沿设置有卷边，卷边朝向与静区相反的方向。本实用新型卷边卷曲的边沿可以将产生的电流沿着卷曲边流动，在卷边的边沿处发生散射，由于卷边的边沿设置在与静区相反的位置上，因此不会对静区的信号产生干扰。

技术领域

本实用新型涉及微波暗室测量技术领域，尤其涉及一种紧缩场测试系统及其反射面。

背景技术

现有的紧缩场测试系统中，反射面的边沿通常为断面边或者锯齿边。当反射面的边沿为断面进行测试时，断面处会对电磁波产生散射，形成散射干扰信号，这些散射干扰信号与测试信号叠加，产生纹波，并将纹波引入到静区位置内的被测件上DUT，使测试结果的准确度受到影响。

当反射面的边沿为锯齿边进行测试时，特别是高频毫米波的测试时，锯齿边相对于毫米波波长比较，同样会产生断面的散射效果，进而将散射干扰信号与测试信号叠加，产生纹波，类似地，纹波引入到被测件所在的静区位置上，测试结果同样受到影响。

实用新型内容

为至少在一定程度上克服现有技术中的上述问题，本实用新型提供一种紧缩场测试系统及其反射面。

第一方面，本实用新型公开了一种紧缩场测试系统，包括：馈源、反射面和转台；所述馈源包括馈源天线；所述馈源天线的相位中心设置于所述反射面曲面的焦点；所述转台用于承载被测件；所述被测件设置于静区内；其中，所述反射面包括反射面本体；所述反射面本体包括抛物面，所述抛物面接收紧缩场中馈源发出的球面波，经过反射后产生的平面波发送至静区；所述反射面本体的边沿设置有卷边，所述卷边的卷曲朝向与所述静区相反的方向。

本实用新型实施例中，馈源天线的相位中心放置在反射面曲面的焦点位置，反射面本体中间的抛物面曲面接收馈源的球面波，反射至静区内产生平面波，卷边卷曲的边沿可以将产生的电流沿着卷曲边流动，在卷边的边沿处发生散射，由于卷边的边沿设置在与静区相反的位置上，因此不会对静区的信号产生干扰。

进一步地，上述紧缩场测试系统中，所述反射面本体为方形或矩形；

所述反射面本体相邻的两个卷边分别为第一卷边和第二卷边；所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第一卷边的边沿所呈的夹角为θ满足：40°≤θ≤50°；所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第二卷边的边沿所呈的夹角为γ满足：40°≤γ≤50°。

本实施例中，限定了相邻两个卷边与边沿的夹角在40°≤θ≤50°之间，当馈源发射的电磁波在第一卷边和所述第二卷边的交线附近区域时，交线卷边上下的电磁波以反射的方式至非静区区域，而交线所产生的散射能量已很小，对静区的幅度和相位性能影响较小。

进一步地，上述紧缩场测试系统中，所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第一卷边的边沿所呈的夹角θ＝45°；所述第一卷边和所述第二卷边的交线与所述第二卷边的边沿所呈的夹角γ＝45°。

在本实用新型实施例中，限定卷边和交线的夹角为45°，当馈源发射的电磁波在第一卷边和所述第二卷边的交线附近区域时，交线卷边上下的电磁波以反射的方式至非静区区域，交线所产生的散射能量降到很低，不足以影响静区的幅度和相位性能，因此对测试结果的影响可以忽略。

进一步地，上述紧缩场测试系统中，所述馈源、所述反射面和所述转台设置于柜体内；所述柜体内壁设置有吸波结构。

本实用新型实施例中，柜体内壁设置有吸波结构，当交线卷边上下的电磁波以反射的方式至非静区区域后，被设置在内壁的吸波结构吸收，进一步降低对测试结果的影响。