[实用新型]用于X射线荧光仪的制样装置

权利要求书

1.一种用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，包括底座、制样内杯、制样外杯和检测薄膜，所述底座设有第一凹槽，所述制样外杯插设于所述第一凹槽内；所述第一凹槽的底部还安装有加热组件；所述制样外杯套设于所述制样内杯外；所述检测薄膜的中部封盖于所述制样内杯的下端面，所述检测薄膜的边缘部分夹设于所述制样内杯和所述制样外杯之间。

2.根据权利要求1所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述加热组件包括加热片、温度传感器和温控器，所述加热片贴设与所述第一凹槽的底部，所述温度传感器的测温端固接于所述加热片，所述温度传感器的信号输出端电连接于所述温控器。

3.根据权利要求2所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述温控器为电子式温控器，所述电子式温控器包括单片机和继电器，所述单片机的输出端串联接入所述继电器的线圈的通电回路，所述继电器的常闭触点串联接入所述加热片的通电回路；所述温度传感器的信号输出端电连接于所述单片机的输入端。

4.根据权利要求3所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述单片机为STM32系列单片机或者MCS-51系列单片机。

5.根据权利要求3所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述底座的外壁还嵌设有加热开关，所述加热开关的触点串联接入所述加热片的通电回路。

6.根据权利要求2所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述加热片的上表面还贴设有金属导热片。

7.根据权利要求2所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述底座包括空心圆管和圆盘，所述空心圆管的底部可拆卸连接于所述圆盘的顶部；所述加热片贴设于所述圆盘的顶面，所述温度传感器和所述温控器均封装于所述圆盘内。

8.根据权利要求2所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述温度传感器为热电阻传感器或者热电偶传感器。

9.根据权利要求1所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，所述制样内杯的高度大于所述制样外杯的高度，且高度差为1mm～4mm。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的用于X射线荧光仪的制样装置，其特征在于，还包括制样杯盖，所述制样杯盖内设有第二凹槽，所述制样内杯的顶部插设于所述第二凹槽内；所述第二凹槽内设有凸柱，所述凸柱的高度大于所述第二凹槽的深度，所述凸柱的底部插设于所述制样内杯内。