[实用新型]用于X射线荧光仪的制样装置

说明书

本实用新型涉及X射线荧光仪辅助设备技术领域，公开了一种用于X射线荧光仪的制样装置，包括底座、制样内杯、制样外杯和检测薄膜，所述底座设有第一凹槽，所述制样外杯插设于所述第一凹槽内；所述第一凹槽的底部还安装有加热组件；所述制样外杯套设于所述制样内杯外；所述检测薄膜的中部封盖于所述制样内杯的下端面，所述检测薄膜的边缘部分夹设于所述制样内杯和所述制样外杯之间。该用于X射线荧光仪的制样装置结构简单，使用方便，操作过程简单，省时省力，可以保持检测薄膜的平整度，还可以保持样品的湿度适宜，尤其适用于野外制样。

技术领域

本实用新型涉及X射线荧光仪辅助设备技术领域，尤其涉及一种用于X射线荧光仪的制样装置。

背景技术

X射线荧光光谱仪是一类有效的分析环境、食品、化工、矿产等样品元素的检测仪器。分析时，待测样品通常为压片、熔片或粉末状等，放置在样品杯中进行检测，所以样品杯是不可或缺的辅助设备，样品杯嵌套X射线检测专用薄膜后，表面的平整度会对检测结果产生较大影响。

现有的样品杯安装后存在易松动、表面不平整的问题，此外，多余的部分翘在外侧的薄膜易产生静电，从而导致在装填粉末样品时易产生飞溅，不方便操作使用，而且制取较大湿度的样品时候存在一定难度，湿度过大会直接影响检测结果。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种用于X射线荧光仪的制样装置，用以解决现有的样品杯装载检测薄膜易松动、不平整且无法合理制取湿度较大的样品的问题，以提高检测准确度。

本实用新型实施例提供一种用于X射线荧光仪的制样装置，包括底座、制样内杯、制样外杯和检测薄膜，所述底座设有第一凹槽，所述制样外杯插设于所述第一凹槽内；所述第一凹槽的底部还安装有加热组件；所述制样外杯套设于所述制样内杯外；所述检测薄膜的中部封盖于所述制样内杯的下端面，所述检测薄膜的边缘部分夹设于所述制样内杯和所述制样外杯之间。

其中，所述加热组件包括加热片、温度传感器和温控器，所述加热片贴设与所述第一凹槽的底部，所述温度传感器的测温端固接于所述加热片，所述温度传感器的信号输出端电连接于所述温控器。

其中，所述温控器为电子式温控器，所述电子式温控器包括单片机和继电器，所述单片机的输出端串联接入所述继电器的线圈的通电回路，所述继电器的常闭触点串联接入所述加热片的通电回路；所述温度传感器的信号输出端电连接于所述单片机的输入端。

其中，所述单片机为STM32系列单片机或者MCS-51系列单片机。

其中，所述底座的外壁还嵌设有加热开关，所述加热开关的触点串联接入所述加热片的通电回路。

其中，所述加热片的上表面还贴设有金属导热片。

其中，所述底座包括空心圆管和圆盘，所述空心圆管的底部可拆卸连接于所述圆盘的顶部；所述加热片贴设于所述圆盘的顶面，所述温度传感器和所述温控器均封装于所述圆盘内。

其中，所述温度传感器为热电阻传感器或者热电偶传感器。

其中，所述制样内杯的高度大于所述制样外杯的高度，且高度差为1mm～4mm。

其中，还包括制样杯盖，所述制样杯盖内设有第二凹槽，所述制样内杯的顶部插设于所述第二凹槽内；所述第二凹槽内设有凸柱，所述凸柱的高度大于所述第二凹槽的深度，所述凸柱的底部插设于所述制样内杯内。