[实用新型]一种多芯测试电路结构

说明书

本实用新型公开了一种多芯测试电路结构。所述多芯测试电路结构，用于半导体芯粒/LED芯粒的多芯测试，所述多芯测试电路结构包括测试部和导通电路部；所述导通电路部包括第一共极端和第二共极端，所述第一共极端和第二共极端分别与测试部电连接；所述第一共极端连接有多个相互并联的第一电连接端；所述第二共极端连接有多个相互并联的第二电连接端，每个第二电连接端均设置有对应的第二常开型开关用于控制与第二共极端导通；第一电连接端导通，同时导通对应一个第二电连接端的第二常开型开关；所述多芯测试电路结构既能够用于LED芯粒的多芯测试也能够用于半导体芯粒的多芯测试。

技术领域

本实用新型涉及一种多芯测试电路结构。

背景技术

现有的位于晶圆上的半导体芯粒和LED芯粒，由于芯粒结构不同，需要采用不同的电路结构；如半导体晶圆，芯粒的两个电极分布于两侧，所有的芯粒共用一个电极且所述电极位于承片台，测试采用探针电连接于半导体芯粒的另一端即可；而对于LED芯粒，由于芯粒两极位于同一侧，对于单颗芯粒需要至少两根探针电连接，测试芯粒时需要将两根探针导通；现有的电路不能实现对半导体和LED芯粒的兼用多芯测试。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提出一种多芯测试电路结构。

本实用新型的技术方案为：一种多芯测试电路结构，用于半导体芯粒/LED芯粒的多芯测试，所述多芯测试电路结构包括测试部和导通电路部；

所述导通电路部包括第一共极端和第二共极端，所述第一共极端和第二共极端分别与测试部电连接；

所述第一共极端连接有多个相互并联的第一电连接端；

所述第二共极端连接有多个相互并联的第二电连接端，每个第二电连接端均设置有对应的第二常开型开关用于控制与第二共极端导通；

同时将多颗半导体芯粒/多颗LED芯粒的两个电极分别连接到不同的第一电连接端和/或不同的第二电连接端；第一电连接端导通，同时导通对应一个第二电连接端的第二常开型开关从而实现导通的第一电连接端和导通的第二电连接端对应的半导体芯粒/LED芯粒完成电测试。

进一步的，每个第一电连接端均设置有对应的第一常开型开关用于控制与第一共极端导通；导通第二电连接端的第二常开型开关时，同时导通对应的第一常开型开关。

进一步的，所述第一常开型开关和第二常开型开关共同构成继电器。

进一步的，所述第一电连接端和第二电连接端分别通过针座连接于半导体芯粒/LED芯粒。

进一步的，所述测试部包括电源组件和测试组件，所述电源组件用于向导通电路部输入电信号，所述测试组件用于测试导通电路部的电信号。

进一步的，所述第一电连接端和第二电连接端连接于针卡。

本实用新型的有益效果在于：能够实现对半导体和LED芯粒兼容性测试，即所述多芯测试电路结构既能够用于LED芯粒的多芯测试也能够用于半导体芯粒的多芯测试。

附图说明

图1为多芯测试电路结构示意图；

图2为测试部提供电压测电压或者提供电流测电压示意图；

图3为测试部提供电压测电流示意图。

具体实施方式

为便于本领域技术人员理解本实用新型的技术方案，下面将本实用新型的技术方案结合具体实施例作进一步详细的说明。