[实用新型]一种荧光膜检测设备有效
申请号: | 201921570096.X | 申请日: | 2019-09-20 |
公开(公告)号: | CN210894133U | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 刘振辉;庞华贵;林港睿;李方;蔺龙 | 申请(专利权)人: | 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 荧光 检测 设备 | ||
本实用新型公开了一种荧光膜检测设备。所述荧光膜检测设备设置有,基板;料盒安装部,通过第一竖直滑轨连接于基板,所述料盒安装部能够沿所述第一竖直滑轨沿竖直方向运动;所述料盒安装部用于放置并固定料盒;取料部,通过第二竖直导轨连接于第一水平导轨,所述第一水平导轨固定于支撑部;载料部,用于放置待测试的荧光膜;所述取料部能够将荧光膜沿第一水平导轨传送到载料部;所述取料部从料盒取荧光膜水平高度等于载料部水平高度;所述取料部沿第二竖直导轨运动的距离小于料盒中相邻两张荧光膜之间的距离;取料部沿竖直方向位置参数少,便于保证取料部竖直方向的位置,增强所述荧光膜检测设备的稳定性。
技术领域
本实用新型涉及一种荧光膜检测设备。
背景技术
荧光膜为将荧光粉涂覆于透明膜上形成的透光结构;荧光膜上荧光粉的厚度和均匀性影响透光质量;现有的取料部在将荧光膜放入料盒时沿竖直方向运动高度要小于从载料部取荧光膜,造成取料部有至少两个竖直位移高度,从而造成取料部复位高度不一致,影响载料部的使用。
实用新型内容
为了减小取料部从料盒取料的运动高度不同于从载料部取料的竖直高度,本实用新型提出一种荧光膜检测设备。
本实用新型的技术方案为:所述荧光膜检测设备设置有,
基板;
料盒安装部,通过第一竖直滑轨连接于基板,所述料盒安装部能够沿所述第一竖直滑轨沿竖直方向运动;所述料盒安装部用于放置并固定料盒;
取料部,通过第二竖直导轨连接于第一水平导轨,所述第一水平导轨固定于支撑部;
载料部,用于放置待测试的荧光膜;所述取料部能够将荧光膜沿第一水平导轨传送到载料部;
所述取料部从料盒取荧光膜水平高度等于载料部水平高度;所述取料部沿第二竖直导轨运动的距离小于料盒中相邻两张荧光膜之间的距离。
进一步的,所述荧光膜检测设备还包括,
检测光源,连接于基板;
积分球,连接于基板且收光口位于检测光源正上方。
进一步的,所述检测光源能够发出蓝色光。
进一步的,载料部包括透明放料部和运动连接部;所述运动连接部通过XY导轨连接于基板;所述透明放料部用于放置荧光膜,所述透明放料部通过多个竖直立柱连接于运动连接部。
进一步的,所述载料部能够沿XY导轨运动使透明放料部位于检测光源和积分球之间。
进一步的,所述检测光源通过水平延伸臂连接于基板,所述多个竖直立柱沿远离水平延伸臂的位置设置。
进一步的,所述料盒安装部包括,
底板,连接于第一竖直滑轨;
第一挡部、第二挡部和第三挡部,均设置于底板上;
活动挡部,设置于底板;所述第一挡部、第二挡部、第三挡部和活动挡部分别止抵于放置在底板上料盒的四个侧面。
进一步的,所述活动挡部包括,
基部;
挡块,旋转连接于基部第一位置;
旋转控制部,旋转连接于基部第二位置;
第一连接部旋转连接于挡块和旋转控制部;所述旋转控制部绕基部旋转通过第一连接部带动挡块旋转。
进一步的,所述第一连接部设置有第一限位部,所述第一限位部沿第一方向a止抵于挡块时,所述挡块止抵于料盒。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于矽电半导体设备(深圳)股份有限公司,未经矽电半导体设备(深圳)股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201921570096.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种配电柜警示装置
- 下一篇:室外换热器、室外机及定频空调器