[实用新型]一种框架外露多搭平台的芯片封装结构有效
申请号: | 201921609660.4 | 申请日: | 2019-09-26 |
公开(公告)号: | CN210640215U | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 吴骏 | 申请(专利权)人: | 中矽科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687 |
代理公司: | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 | 代理人: | 孙国栋 |
地址: | 518116 广东省深圳市龙岗区平湖街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 框架 外露 平台 芯片 封装 结构 | ||
1.一种框架外露多搭平台的芯片封装结构,包括下壳体(1),其特征在于,所述下壳体(1)底部的内壁开设有安装槽(2),所述安装槽(2)的内部设有横向设置的芯片主体(3),所述下壳体(1)的内部活动连接有横向设置的上壳体(4),所述上壳体(4)的两端均设有定位机构,所述上壳体(4)通过定位机构固定在下壳体(1)上,所述上壳体(4)顶部两端的内壁均设有限位机构,所述下壳体(1)的两侧开设有多个牵引槽(14),所述芯片主体(3)的引脚通过牵引槽(14)延伸出下壳体(1)的外部。
2.根据权利要求1所述的一种框架外露多搭平台的芯片封装结构,其特征在于,所述定位机构包括连接槽(5)和定位块(7),所述连接槽(5)开设在上壳体(4)两端的内壁上,所述连接槽(5)的内部滑动连接有竖向设置的滑块(6),所述定位块(7)焊接在滑块(6)靠近下壳体(1)的一侧,所述连接槽(5)的内部设有多个横向设置的复位弹簧(8),所述下壳体(1)的两端均开设有定位槽(9),所述定位块(7)活动连接在定位槽(9)的内部。
3.根据权利要求1所述的一种框架外露多搭平台的芯片封装结构,其特征在于,所述限位机构包括限位槽(10)和限位柱(12),所述限位槽(10)开设在上壳体(4)顶部两端的内壁上,所述限位槽(10)的内部设有弹簧(11),所述限位柱(12)活动连接在限位槽(10)的内部,所述限位柱(12)远离弹簧(11)的一端粘结有橡胶块(13),所述橡胶块(13)的底部与芯片主体(3)的顶部相接触。
4.根据权利要求1所述的一种框架外露多搭平台的芯片封装结构,其特征在于,所述下壳体(1)为开口向上的凹形箱体,所述上壳体(4)为U形结构。
5.根据权利要求1所述的一种框架外露多搭平台的芯片封装结构,其特征在于,所述上壳体(4)底部的外壁沿周向设有HNBR氢化丁腈橡胶密封圈,所述牵引槽(14)的槽壁沿周向设有SIL硅橡胶密封圈。
6.根据权利要求3所述的一种框架外露多搭平台的芯片封装结构,其特征在于,所述弹簧(11)的一端焊接在限位槽(10)的内壁上,所述弹簧(11)的另一端焊接在限位柱(12)上。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造