[实用新型]一种半导体探针测试治具

说明书

本实用新型涉及半导体生产测试领域的一种半导体探针测试治具，下固定座上设置有固定台，上固定座下面设置有伸出气缸组件，伸出气缸组件下面配合设置有探针测试组件，探针测试组件设置有若干组，探针测试组件排布设置有若干组，固定台上设置有限位组件，探针测试组件对应限位组件设置；探针测试组件包括设置在限位组件左侧的左侧探针限位部，设置在限位组件右侧的右侧探针限位部，设置在限位组件上面的上侧探针限位部；该实用新型能够自动进行限位，不会安装出错，在工作时候的时候能够自动进行校正，同时确保中心探针具有较好的回弹力，提高测试效率，避免探针过快的损坏。

技术领域

本实用新型涉及半导体生产测试领域内的一种半导体探针测试治具。

背景技术

现有技术中，现有的智能终端产品的线路排布及结构越来越复杂，因此，在生产过程中，对测试设备的要求也越来越高，在进行相关产品的测试时，经常会用到探针，由于产品的待测试点距离测试设备的高度不一，所以要准备不同长度的探针以满足不同的测试要求，在测试过程中；而且在测试过程中需要进行固定，人工固定比较麻烦，会带来较大的不便，而且过程比较繁琐，不利于长期的高效的进行使用。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种半导体探针测试治具，该实用新型能够自动进行限位，不会安装出错，在工作时候的时候能够自动进行校正，同时确保中心探针具有较好的回弹力，提高测试效率，避免探针过快的损坏。

本实用新型的目的是这样实现的：一种半导体探针测试治具，包括下固定座，配合下固定座设置的上固定座，其特征在于，所述下固定座上设置有固定台，上固定座下面设置有伸出气缸组件，所述伸出气缸组件下面配合设置有探针测试组件，所述探针测试组件设置有若干组，所述探针测试组件排布设置有若干组，所述固定台上设置有限位组件，所述探针测试组件对应限位组件设置；所述探针测试组件包括设置在限位组件左侧的左侧探针限位部，设置在限位组件右侧的右侧探针限位部，设置在限位组件上面的上侧探针限位部。

本实用新型工作时，伸出气缸组件进行上下移动，带动探针测试组件进行上下移动，移动工作时，左侧探针限位部和右侧探针限位部能够进行自动限位并且进行定位，然后探针测试组件下降直接进行测试，在进行测试之前先进行定位校正，提高效率。

本实用新型的有益效果在于，该实用新型能够自动进行限位，不会安装出错，在工作时候的时候能够自动进行校正，同时确保中心探针具有较好的回弹力，提高测试效率，避免探针过快的损坏。

作为本实用新型的进一步改进，为保证左侧探针限位部和右侧探针限位部具有较好的限位作用，而且具有较好的工作效率；所述左侧探针限位部和右侧探针限位部之间错开设置，所述上侧探针限位部分别与左侧探针限位部、右侧探针限位部之间错开设置。

作为本实用新型的进一步改进，为保证探针测试组件能够正常高效的进行工作；所述左侧探针限位部、右侧探针限位部和上侧探针限位部分别包括若干组探针测试组件，相邻的探针测试组件错开设置，所述探针测试组件包括纵向设置的中心探针，用于连接中心探针和伸出气缸组件的中心探针连接座，设置在中心探针中心的弹性挡圈，设置在弹性挡圈上面的上弹簧组件，设置在弹性挡圈下面的下弹簧组件，设置中心探针下面的探针头，设置在探针头外周的下限位套，设置在中心探外周的上限位套。

作为本实用新型的进一步改进，为保证中心探针具有较好的回弹力，工作效率高，不容易损坏；所述上弹簧组件设置在伸出气缸组件和弹性挡圈之间，所述下弹簧组件设置在弹性挡圈和下限位套之间。

作为本实用新型的进一步改进，为保证避免探针头磨损，损坏；所述探针头呈扁平形状设置，所述探针头的两侧分别设置有限位柱，下限位套的两侧配合限位柱设置有限位腰型孔。

作为本实用新型的进一步改进，为保证该探针测试组件具有较好的回弹力，工作稳定可靠；所述上弹簧组件截面的尺寸大于下弹簧组件截面的尺寸。