[实用新型]一种SOE分辨率测试仪有效
申请号: | 201921732604.X | 申请日: | 2019-10-15 |
公开(公告)号: | CN211374910U | 公开(公告)日: | 2020-08-28 |
发明(设计)人: | 陶富明;舒亿兵 | 申请(专利权)人: | 云谷技术(珠海)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 广州鼎贤知识产权代理有限公司 44502 | 代理人: | 刘莉梅 |
地址: | 519000 广东省珠海市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 soe 分辨率 测试仪 | ||
1.一种SOE分辨率测试仪,其特征在于:包括:
MCU,所述MCU用于发出来信号;
逻辑控制电路,所述逻辑控制电路用于接收所述MCU发来的信号;
所述逻辑控制电路包括:
KOUT;
逻辑芯片U140,所述MCU发来的信号经过KOUT并传输至逻辑芯片U140,所述逻辑芯片U140并通过DO输出,经光耦隔离后,再由端子外接被测试装置的遥信回路。
2.根据权利要求1所述的一种SOE分辨率测试仪,其特征在于:所述KOUT由KOUT0~KUOT7构成,并且相互并联。
3.根据权利要求2所述的一种SOE分辨率测试仪,其特征在于:所述DO由DO0~DO7构成,并且相互并联。
4.根据权利要求3所述的一种SOE分辨率测试仪,其特征在于:所述光耦的型号为SFH619A-X009T,并且所述光耦并联设置有多个。
5.根据权利要求4所述的一种SOE分辨率测试仪,其特征在于:所述MCU型号为sn74abt162244。
6.根据权利要求5所述的一种SOE分辨率测试仪,其特征在于:所述逻辑芯片U140型号为SN74HC04DR。
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