[实用新型]一种SOE分辨率测试仪

说明书

本实用新型属于SOE分辨率测试仪技术领域且公开了一种SOE分辨率测试仪，MCU用于发出来信号；逻辑控制电路用于接收所述MCU发来的信号；逻辑控制电路包括KOUT；MCU发来的信号经过KOUT并传输至逻辑芯片U140，逻辑芯片U140并通过DO输出，经光耦隔离后，再由端子外接被测试装置的遥信回路。本实用新型利用MCU发出控制指令，驱动外面的逻辑电路，通过光耦隔离，实现快速输出反应，很好的提高了抗干扰能力，操作简单，用一两千元的成本轻松实现原价值几万的设备所拥有的功能。

技术领域

本实用新型涉及SOE分辨率测试仪技术领域，尤其涉及一种SOE分辨率测试仪。

背景技术

原有的SOE分辨率测试仪设备价格高,一般售价在8万左右,本发明直接利用我们现在的FTU核心单元,成本低,只有1500元,并且精度和性能都比较高。

原有的SOE分辨率测试仪设备抗干扰能力差，做电快速瞬变时SOE测试会损坏设备的通道，本发明解决了抗干扰问题，能够在电磁兼容环境下正常工作。

原有的SOE分辨率测试仪设备接线不方便，因为采用并口接线，线细，易断，接线不方便，本发明采用端子出线，直接用导线与被测度设备相连，接线方便可靠。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种SOE分辨率测试仪，利用MCU发出控制指令，驱动外面的逻辑电路，通过光耦隔离，实现快速输出反应，很好的提高了抗干扰能力，操作简单，用一两千元的成本轻松实现原价值几万的设备所拥有的功能，可以有效解决背景技术中的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：

本实用新型提供一种SOE分辨率测试仪，包括：

MCU，所述MCU用于发出来信号；

逻辑控制电路，所述逻辑控制电路用于接收所述MCU发来的信号；

所述逻辑控制电路包括：

KOUT；

逻辑芯片U140，所述MCU发来的信号经过KOUT并传输至逻辑芯片 U140，所述逻辑芯片U140并通过DO输出，经光耦隔离后，再由端子外接被测试装置的遥信回路。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述KOUT由KOUT0～KUOT7构成，并且相互并联。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述DO由DO0～DO7构成，并且相互并联。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述光耦的型号为SFH619A- X009T，并且所述光耦并联设置有多个。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述MCU型号为 sn74abt162244。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述逻辑芯片U140型号为 SN74HC04DR。

本实用新型中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或者优点：

利用MCU发出控制指令，驱动外面的逻辑电路，通过光耦隔离，实现快速输出反应，很好的提高了抗干扰能力，操作简单，用一两千元的成本轻松实现原价值几万的设备所拥有的功能。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。

在附图中：

图1是本实用新型实施例所述的一种SOE分辨率测试仪MCU电路图；

图2是本实用新型实施例所述的一种SOE分辨率测试仪逻辑芯片电路图；