[实用新型]矫孔装备

权利要求书

1.矫孔装备，包括检测设备和矫直设备，其特征在于：检测设备有基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分；人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动；探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜；探测部分能够绕支点在空间内运动；光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化；光学部分的光发射装置位于孔内或孔外；光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧；所设计的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴，运算显示部分对光斑位置信息进行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息；支点可以在孔内或孔外；探测部分采用对称式结构或非对称式结构；探测部分是整体或分体式；带孔工件立式或卧式放置；在矫直设备上沿带孔工件表面的长度方向和圆周方向分布有多个专用加力器，形成专用加力器阵列；加力前测量各个加力部位偏离理想位置的误差；各个专用加力器施加力的大小与所在加力部位偏离理想位置的误差有关；有对工件加热的装置或没有加热装置。

2.根据权利要求1所述的矫孔装备，其特征在于：所述的基准部分有导向体；所述的驱动部分有驱动体；所述的探测部分有探测杆、探测头；探测头是位于孔内的装置，与孔壁接触或与孔壁之间有气膜；所述的光学部分有光发射装置、光线、光接收装置；所述的运算显示部分包括运算器和显示器；探测头位于探测杆上，当人手或驱动部分带动探测部分或带孔工件沿导向体运动时，探测杆随孔的变化和探测头相对基准部分的变化绕支点进行空间内的运动；所发出的光线射向光接收装置；探索杆位置的变化引起光发射装置、光线和光接收装置上光斑位置发生变化；显示器反映光斑位置或其变化或其变换后的信息，运算器为独立装置或与显示器制作为一体。

3.根据权利要求1所述的矫孔装备，其特征在于：当光学部分与探测部分位于支点的同一侧时，光斑的变动量大于探测头的变动量；当光学部分与探测部分分别位于支点的两侧、且光接收装置到支点的距离大于探测头到支点的距离时，光斑的变动量大于探测头的变动量；光接收装置有罩盖；所述的光斑位置变换后的信息为孔的直线度或垂直度或平行度或倾斜度。

4.根据权利要求1所述的矫孔装备，其特征在于：探测部分自动适应孔径的变化；所述的支点处有间隙调整装置或没有间隙调整装置，支点为球副或球轴承，或球副、球轴承以外可使探测部分绕支点摆动或转动的结构。

5.根据权利要求1所述的矫孔装备，其特征在于所述的基准部分的导向体为机床导轨，所述的驱动部分的驱动体为机床溜板；光学位移检测装置或机械位移检测装置检测带孔工件或探测部分相对于基准部分的移动距离；分体式探测部分能够被拆开、拆开后能够被组装为整体。

6.根据权利要求1所述的矫孔装备，其特征在于，当探测杆脱离带孔工件时，位于其下方的缓冲器上或自然下垂；所述的缓冲器有弹簧或弹性材料或磁性材料，或者缓冲器与探测杆之间通入有压气体，气体作用于探测杆。

7.根据权利要求1所述的矫孔装备，其特征在于，探测部分的探测杆内无孔或有孔；探测头与孔壁为线接触或面接触；探测头与孔的内壁沿360度范围接触或单边接触或以小于360度范围内的角度接触；对于探测头与孔壁接触的情况，探测头与孔壁之间为干摩擦或边界摩擦或混合摩擦或流体润滑或具有压力的油雾从探测头上的径向孔内流出；对于气体流过探测杆内孔的情况，探测头沿孔轴线方向尺寸不等，探测头与被测工件的孔壁形成一个或多于一个的环形楔形空间，在探测头上沿圆周分布有多个斜孔，有压气体流入探测杆内孔，进入探测头上的斜孔，探测头与孔壁形成气膜，气体流出斜孔时，流动方向从楔形空间的大间隙指向楔形空间的小间隙。

8.根据权利要求1所述的矫孔装备，其特征在于，在探测部分的探测杆内有孔时，其探测头与孔壁形成的气膜的压力因孔径变大而下降，因孔径变小而上升；输入缓冲器与探测杆之间的气体压力，随气膜压力而调整。

9.根据权利要求1所述的矫孔装备，其特征在于，所述的支点可以位于固定的物体上，也可以位于支撑上，探测杆相对于支撑只有一个旋转自由度；支撑相对于基准部分可旋转，只有一个旋转自由度。