[实用新型]矫孔装备

说明书

本实用新型属于机械加工领域，具体涉及矫孔装备，包括检测设备、矫直设备。检测设备有基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准部分移动，通过探测部分绕支点的运动、由光斑及其变化信息获得孔的直线度。在矫直设备上分布有多个专用加力器，力的大小与各部位的误差有关。有对工件加热的装置或没有加热装置。检测过程中光斑稳定，具有放大误差的作用，分辨率高。探测头的位移可以等于光发射装置的位移，不受探测杆的变形的影响。可以防止探测头绕自身轴线旋转，或减小旋转的不良影响。可测量小直径孔。采用顺锥，利于减少探测头的偏心。检测受外界光的干扰少。气压油雾润滑，摩擦磨损小。

技术领域

本实用新型属于机械加工领域，具体涉及矫孔装备。

背景技术

常见矫直器用来矫正矫直钢丝等线材直线度，在线材钢丝拉拔成型过程中，起到关键性 物理作用，由微小导轮，调节螺丝，支架，垫片等构成。部分企业生产校直管材的设备，校 校直轮、整圆轮布置在垂直、水平两个方向上，以两个平面对管进行整圆与校直，每根管有 两组整圆轮。

发明内容

本实用新型的目的：提出一种能提高孔的检测与矫直精度的装备，适用于带有大直径孔 和小直径孔的工件。

本实用新型通过以下技术创新点实现。

1.矫孔装备包括检测设备和矫直设备，其特征在于：检测设备有基准部分、驱动部分、 探测部分、光学部分、运算显示部分；人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部 分移动；探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜；探测部分能 够绕支点在空间内运动；光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化；光 学部分的光发射装置位于孔内或孔外；光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧；所设计 的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴，运算显示部分对光斑位置信息进 行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息；支点可以在孔内或孔外；探测部分采用 对称式结构或非对称式结构；探测部分是整体或分体式；带孔工件立式或卧式放置；在矫直 设备上沿带孔工件表面的长度方向和圆周方向分布有多个专用加力器，形成专用加力器阵列； 加力前测量各个加力部位偏离理想位置的误差；各个专用加力器施加力的大小与所在加力部 位偏离理想位置的误差有关；有对工件加热的装置或没有加热装置。

2.根据技术创新点1所述的矫孔装备，其特征在于：所述的基准部分有导向体；所述的 驱动部分有驱动体；所述的探测部分有探测杆、探测头；探测头是位于孔内的装置，与孔壁 接触或与孔壁之间有气膜；所述的光学部分有光发射装置、光线、光接收装置；所述的运算 显示部分包括运算器和显示器；探测头位于探测杆上，当人手或驱动部分带动探测部分或带 孔工件沿导向体运动时，探测杆随孔的变化和探测头相对基准部分的变化绕支点进行空间内 的运动；所发出的光线射向光接收装置；探索杆位置的变化引起光发射装置、光线和光接收 装置上光斑位置发生变化；显示器反映光斑位置或其变化或其变换后的信息，运算器为独立 装置或与显示器制作为一体。

3.根据技术创新点1所述的矫孔装备，其特征在于：当光学部分与探测部分位于支点的 同一侧时，光斑的变动量大于探测头的变动量；当光学部分与探测部分分别位于支点的两侧、 且光接收装置到支点的距离大于探测头到支点的距离时，光斑的变动量大于探测头的变动量； 光接收装置有罩盖；所述的光斑位置变换后的信息为孔的直线度或垂直度或平行度或倾斜度。

4.根据技术创新点1所述的矫孔装备，其特征在于：探测部分自动适应孔径的变化；所 述的支点处有间隙调整装置或没有间隙调整装置，支点为球副或球轴承，或其它结构，所述 的其它结构可使探测部分绕支点摆动或转动。

5.根据技术创新点1所述的矫孔装备，其特征在于所述的基准部分的导向体为机床导轨 或其它导向物体，所述的驱动部分的驱动体为机床溜板或其它物体；光学位移检测装置或机 械位移检测装置检测带孔工件或探测部分相对于基准部分的移动距离；分体式探测部分能够 被拆开、拆开后能够被组装为整体。