[实用新型]晶圆的湿处理系统有效
申请号: | 201921769968.5 | 申请日: | 2019-10-21 |
公开(公告)号: | CN210467781U | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 刘召军;林大野;吴国才 | 申请(专利权)人: | 深圳市思坦科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 系统 | ||
1.一种晶圆的湿处理系统,用于清洗和/或蚀刻晶圆,其特征在于,包括:
喷淋头,设置有至少一个喷洒孔,用于喷洒待喷洒液;
真空吸盘,位于所述喷淋头的下方,所述真空吸盘包括有承载吸板和壳体,所述壳体和承载吸板构成所述真空吸盘的腔体,所述承载吸板还设有贯通所述腔体的至少一个通孔,所述承载吸板用于放置所述晶圆。
2.根据权利要求1所述的晶圆的湿处理系统,其特征在于,所述晶圆的湿处理系统还包括:
至少一个液桶,用于盛放待喷洒液,所述喷淋头通过进液管与所述至少一个液桶贯通。
3.根据权利要求1所述的晶圆的湿处理系统,其特征在于,所述晶圆的湿处理系统还包括:
真空压力传感器,设置于所述真空吸盘的腔体内,用于检测所述真空吸盘的腔体的真空压力;
真空泵,通过抽气管与所述真空吸盘的腔体相连,用于对所述真空吸盘的腔体进行抽气以通过所述承载吸板的至少一个通孔吸附所述晶圆;
真空阀,设置于所述抽气管上,用于控制抽气流量。
4.根据权利要求1所述的晶圆的湿处理系统,其特征在于,所述承载吸板还包括:
重量传感器,用于检测放置于所述承载吸板上的所述晶圆的重量。
5.根据权利要求2所述的晶圆的湿处理系统,其特征在于,所述晶圆的湿处理系统还包括:
喷淋开关,设置于所述进液管上,用于控制所述待喷洒液的喷洒流量。
6.根据权利要求1所述的晶圆的湿处理系统,其特征在于,所述至少一个喷洒孔还包括:
喷洒孔开关,用于控制预设分布位置和预设数量的所述至少一个喷洒孔的工作状态。
7.根据权利要求1所述的晶圆的湿处理系统,其特征在于,所述待喷洒液包括清洗液、蚀刻液或DI纯水的其中一种或多种。
8.根据权利要求1所述的晶圆的湿处理系统,其特征在于,所述承载吸板上方还设有图像采集模块,所述图像采集模块用于采集承载吸板上的图像。
9.根据权利要求1所述的晶圆的湿处理系统,其特征在于,所述喷淋头和所述承载吸板为圆形。
10.根据权利要求9所述的晶圆的湿处理系统,其特征在于,所述喷淋头的直径大于所述承载吸板的直径。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造