[实用新型]电子组件的测试装置

权利要求书

1.一种电子组件的测试装置，其特征在于：所述电子组件的测试装置包含：

测试座，包括多个分别界定出多个设置孔的孔壁，其中，每一个孔壁具有定义出两个分别邻近于两相反端的设置位置的壁面、至少一个在所述设置位置至少其中一个而自所述壁面朝向所述设置孔凸出的第一凸出部，及至少一个介于所述设置位置间而自所述壁面朝向所述设置孔凸出的第二凸出部，定义每一个孔壁沿平行对应的设置孔轴向的纵方向的高度，所述至少一个第一凸出部及所述至少一个第二凸出部沿平行所述纵方向的深度，为所述高度的0.05至0.3倍；及

多个探针，分别定位于所述设置孔中。

2.根据权利要求1所述电子组件的测试装置，其特征在于：每一个探针包括主体，及两个自所述主体分别往相反两侧延伸的接触件，定义垂直于所述纵方向的横方向，每一个探针的所述主体沿所述横方向的投影范围通过对应的孔壁的所述至少一个第二凸出部，而每一个探针的所述接触件至少其中一个沿所述横方向的投影范围通过对应的孔壁的所述至少一个第一凸出部。

3.根据权利要求2所述电子组件的测试装置，其特征在于：所述电子组件的测试装置还包含多个分别设置于所述设置孔且分别用于定位所述探针的定位单元，每一个定位单元包括至少一个对应所述至少一个第一凸出部，且围绕限位对应的接触件的绝缘体。

4.根据权利要求1所述电子组件的测试装置，其特征在于：每一个孔壁的所述至少一个第二凸出部沿所述纵方向的深度，大于所述至少一个第一凸出部沿所述纵方向的深度。

5.根据权利要求1所述电子组件的测试装置，其特征在于：每一个孔壁的所述至少一个第二凸出部是呈环状而围绕对应的探针，且沿所述纵方向的截面形状为矩形。

6.根据权利要求5所述电子组件的测试装置，其特征在于：定义所述测试座的所述壁面的内径为基准孔径，所述至少一个第二凸出部的内径长为所述基准孔径的0.4至0.8倍。

7.根据权利要求1所述电子组件的测试装置，其特征在于：每一个孔壁的所述至少一个第二凸出部是呈环状而围绕所述探针，且沿所述纵方向的截面形状为梯形或三角形。

8.根据权利要求7所述电子组件的测试装置，其特征在于：定义所述测试座的所述壁面的内径为基准孔径，所述至少一个第二凸出部靠近所述探针的内径长为所述基准孔径的0.4至0.8倍。

9.根据权利要求1所述电子组件的测试装置，其特征在于：每一个孔壁具有两个或三个彼此沿所述纵方向间隔排列的第二凸出部。