[实用新型]电子组件的测试装置

说明书

一种电子组件的测试装置，包含测试座及多个探针。所述测试座包括多个分别界定出多个供所述探针定位的设置孔的孔壁，每一个孔壁具有定义出两个设置位置的壁面、至少一个在所述设置位置至少其中一个而自所述壁面朝所述设置孔凸出的第一凸出部，及至少一个介于所述设置位置间而自所述壁面朝所述设置孔凸出的第二凸出部。定义每一个孔壁沿平行对应的设置孔轴向的纵方向的高度，所述至少一个第一凸出部及所述第二凸出部沿平行所述纵方向的深度，为所述高度的0.05至0.3倍。通过调整所述第一、第二凸出部，能配合所述探针的型态而形成合适的阻抗匹配，以因应高速测试的需求。

技术领域

本实用新型涉及一种电性测试装置，特别是涉及一种电子组件的测试装置。

背景技术

参阅图1，为一现有的测试装置1，适用于检测一待测组件9，包含一界定出多个呈单一孔径的探针孔100的测试座11，及多个分别设置于所述探针孔100的弹簧探针12。其中，由于所述探针孔100是呈单一孔径，故相邻的探针孔100间，不会因径宽变化或者设计其他固定结构而产生不必要的间隔距离，有利于借此减少所述弹簧探针12间的距离，进而缩小测试的尺度。

为了因应现今高速测试的需求，如何在高频域的测试下提高测试精准度，阻抗匹配即是相当重要的一环。然而，在所述探针孔100呈现单一孔径，且通常会为了缩小测试尺度而缩小间隔的情况下，相邻探针孔100间的所述测试座11的实体材料肉厚势必甚窄，因此针对每一个弹簧探针12的型态调整的灵活度也较低。当所述测试座11与所述弹簧探针12的阻抗匹配不佳时，在越高频域(越高速)的电性测试下，更是容易影响到测试的精准度。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种能在高速测试下优化阻抗匹配的电子组件的测试装置。

本实用新型电子组件的测试装置，包含测试座，及多个探针。所述测试座包括多个分别界定出多个设置孔的孔壁，所述探针分别定位于所述设置孔中。

其中，每一个孔壁具有定义出两个分别邻近于两相反端的设置位置的壁面、至少一个在所述设置位置至少其中一个而自所述壁面朝向所述设置孔凸出的第一凸出部，及至少一个介于所述设置位置间而自所述壁面朝向所述设置孔凸出的第二凸出部。定义每一个孔壁沿平行对应的设置孔轴向的纵方向的高度，所述至少一个第一凸出部及所述至少一个第二凸出部沿平行所述纵方向的深度，为所述高度的0.05至0.3倍。

本实用新型的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

较佳地，前述电子组件的测试装置，其中，每一个探针包括主体，及两个自所述主体分别往相反两侧延伸的接触件，定义垂直于所述纵方向的横方向，每一个探针的所述主体沿所述横方向的投影范围通过对应的孔壁的所述至少一个第二凸出部，而每一个探针的所述接触件至少其中一个沿所述横方向的投影范围通过对应的孔壁的所述至少一个第一凸出部。

较佳地，前述电子组件的测试装置，其中，所述电子组件的测试装置还包含多个分别设置于所述设置孔且分别用于定位所述探针的定位单元，每一个定位单元包括至少一个对应所述至少一个第一凸出部，且围绕限位对应的接触件的绝缘体。

较佳地，前述电子组件的测试装置，其中，每一个孔壁的所述至少一个第二凸出部沿所述纵方向的深度，大于所述至少一个第一凸出部沿所述纵方向的深度。

较佳地，前述电子组件的测试装置，其中，每一个孔壁的所述至少一个第二凸出部是呈环状而围绕对应的探针，且沿所述纵方向的截面形状为矩形。

较佳地，前述电子组件的测试装置，其中，定义所述测试座的所述壁面的内径为基准孔径，所述至少一个第二凸出部的内径长为所述基准孔径的0.4至0.8倍。

较佳地，前述电子组件的测试装置，其中，每一个孔壁的所述至少一个第二凸出部是呈环状而围绕所述探针，且沿所述纵方向的截面形状为梯形或三角形。