[实用新型]一种IPG激光器控制卡的测试器

权利要求书

1.一种IPG激光器控制卡的测试器，其特征在于，包含:激光器的标准DB25插座、第一SN74ALVC164245DL芯片、第二SN74ALVC164245DL芯片、25×2的插头、第一12×2插头、第二12×2插头、17组发光组件以及工作电源；

对于第一SN74ALVC164245DL芯片：第2、3、5、6、8、9、11、12、13、14、16、17、19、20引脚依次连接标准DB25插座的第23、22、9、8、20、7、19、6、18、5、4、3、2、1引脚，第48、25引脚与第二SN74ALVC164245DL芯片第48、25引脚一共4个引脚连接在一起后通过上拉电阻连接3.3V电源，第1、24引脚连接在一起后通过下拉电阻接地，第48、1、47、46、44、43、41、40、38、37、36、35、33、32、30、29引脚依次连接25×2的插头的第11、45、44、43、34、33、31、20、19、18、17、16、15、14、13、12引脚；

对于第二SN74ALVC164245DL芯片：第2、3、5、6引脚依次连接标准DB25插座的第11、12、16、21引脚，第8、9、11、12引脚一起连接一P型MOS管的G极，第1、24引脚连接在一起后通过第二上拉电阻接3.3V电源，第47引脚连接第二12×2插头的第7引脚，第46、44、43引脚连接第一12×2插头的第23、21、22引脚，第41、40、38、37引脚一起连接第一12×2插头的第19引脚；

P型MOS管的G极的S极连接5V电源，D极连接标准DB25插座的第15引脚，且G极通过第三上拉电阻接5V电源，P型MOS管的S极和D极之间跨接一个寄生二极管，寄生二极管的阳极连接P型MOS管的D极，阴极连接P型MOS管的S极；

17组发光组件中，每组发光组件包含一个LED管和一个限流电阻，17个LED管的阳极分别连接标准DB25插座第20、19、22、18、1、2、3、4、5、6、7、8、9、11、12、16、21引脚，阴极通过对应的限流电阻接地。

2.根据权利要求1所述的IPG激光器控制卡的测试器，其特征在于，上拉电阻＝下拉电阻＝第二上拉电阻＝第三上拉电阻＝1K欧。

3.根据权利要求1所述的IPG激光器控制卡的测试器，其特征在于，第一SN74ALVC164245DL芯片的第7、18引脚接5V，第31、42引脚接3.3V，第4、10、15、21、28、34、39、45引脚接地；

第二SN74ALVC164245DL芯片的第7、18引脚接5V，第31、42引脚接3.3V，第4、10、15、21、28、34、39、45引脚接地。

4.根据权利要求1所述的IPG激光器控制卡的测试器，其特征在于，标准DB25插座的第17引脚连接5V，第10引脚接地。

5.根据权利要求1所述的IPG激光器控制卡的测试器，其特征在于，所述工作电源包括芯片LM1117MP-3.3，芯片LM1117MP-3.3的第3引脚输入5V电源，第1引脚接地，第2引脚引出3.3V的电源输出端，且与第4引脚连接。

6.根据权利要求5所述的IPG激光器控制卡的测试器，其特征在于，所述3.3V的电源输出端与地之间依次串联限流电阻以及发光二极管，其中发光二极管的阴极连接地所在侧。

7.根据权利要求1所述的IPG激光器控制卡的测试器，其特征在于，所述限流电阻的大小为330欧姆。