[实用新型]一种IPG激光器控制卡的测试器有效
申请号: | 201921970530.3 | 申请日: | 2019-11-14 |
公开(公告)号: | CN210895124U | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 范陈杰;刘勇;陈金鹏 | 申请(专利权)人: | 武汉拓尔奇光电技术有限公司 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 | 代理人: | 金慧君 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ipg 激光器 控制 测试 | ||
本实用新型公开了一种IPG激光器控制卡的测试器,包含:激光器的标准DB25插座、第一SN74ALVC164245DL芯片、第二SN74ALVC164245DL芯片、25×2的插头、第一12×2插头、第二12×2插头、17组发光组件以及工作电源。通过标准DB25插座连接IPG激光器控制卡的插口后,通过17个LED灯可以查看出IPG激光器控制卡的功能是否正常,若是不正常,可以通过25×2的插头以及两个12×2插头上的引脚进行数据采集,进一步确认出现异常的地方。
技术领域
本实用新型涉及激光器领域,更具体地说,涉及一种IPG激光器控制卡的测试器。
背景技术
IPG激光器控制卡作为激光器的核心部件,对激光器的性能有着十分重要的影响,因此对IPG激光器控制卡进行测试是IPG激光器控制卡生产加工过程中必不可少的一个环节。但是由于IPG激光器控制卡所设计的功能繁杂,如果全程以人工为主进行测试,测试过程将十分繁杂缓慢,因此有必要提供一种专门的IPG激光器控制卡的测试器。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题在于,针对现有技术的IPG激光器控制卡测试繁杂缓慢的技术缺陷,提供了一种IPG激光器控制卡的测试器。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种IPG激光器控制卡的测试器,包含:激光器的标准DB25插座、第一SN74ALVC164245DL芯片、第二SN74ALVC164245DL芯片、25×2的插头、第一12×2插头、第二12×2插头、17组发光组件以及工作电源;
对于第一SN74ALVC164245DL芯片:第2、3、5、6、8、9、11、12、13、14、16、17、19、20引脚依次连接标准DB25插座的第23、22、9、8、20、7、19、6、18、5、4、3、2、1引脚,第48、25引脚与第二SN74ALVC164245DL芯片第48、25引脚一共4个引脚连接在一起后通过上拉电阻连接3.3V电源,第1、24引脚连接在一起后通过下拉电阻接地,第48、1、47、46、44、43、41、40、38、37、36、35、33、32、30、29引脚依次连接25×2的插头的第11、45、44、43、34、33、31、20、19、18、17、16、15、14、13、12引脚;
对于第二SN74ALVC164245DL芯片:第2、3、5、6引脚依次连接标准DB25插座的第11、12、16、21引脚,第8、9、11、12引脚一起连接一P型MOS管的G极,第1、24引脚连接在一起后通过第二上拉电阻接3.3V电源,第47引脚连接第二12×2插头的第7引脚,第46、44、43引脚连接第一12×2插头的第23、21、22引脚,第41、40、38、37引脚一起连接第一12×2插头的第19引脚;
P型MOS管的G极的S极连接5V电源,D极连接标准DB25插座的第15引脚,且G极通过第三上拉电阻接5V电源,P型MOS管的S极和D极之间跨接一个寄生二极管,寄生二极管的阳极连接P型MOS管的D极,阴极连接P型MOS管的S极;
17组发光组件中,每组发光组件包含一个LED管和一个限流电阻,17个LED管的阳极分别连接标准DB25插座第20、19、22、18、1、2、3、4、5、6、7、8、9、11、12、16、21引脚,阴极通过对应的限流电阻接地。
进一步地,在本实用新型的IPG激光器控制卡的测试器中,上拉电阻=下拉电阻=第二上拉电阻=第三上拉电阻=1K欧。
进一步地,在本实用新型的IPG激光器控制卡的测试器中,第一SN74ALVC164245DL芯片的第7、18引脚接5V,第31、42引脚接3.3V,第4、10、15、21、28、34、39、45引脚接地;
第二SN74ALVC164245DL芯片的第7、18引脚接5V,第31、42引脚接3.3V,第4、10、15、21、28、34、39、45引脚接地。
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