[实用新型]一种半导体卷带封装测试用清针工装有效
申请号: | 201922061544.X | 申请日: | 2019-11-26 |
公开(公告)号: | CN210692499U | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 蔡水河;黄朝龙 | 申请(专利权)人: | 常州欣盛半导体技术股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/66 |
代理公司: | 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367 | 代理人: | 蒋路帆 |
地址: | 213000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 封装 测试 用清针 工装 | ||
1.一种半导体卷带封装测试用清针工装,其特征在于:包括清针部件和握持部件,所述清针部件固定在握持部件一端,所述握持部件包括夹板(3)、连接板(4)和把手(5),所述夹板(3)与连接板(4)的一端固定连接,所述连接板(4)另一端与把手(5)固定连接,所述清针部件夹持在夹板(3)内。
2.根据权利要求1所述的一种半导体卷带封装测试用清针工装,其特征在于:所述清针部件包括弹性软板(1)和清针砂纸(2),所述弹性软板(1)设置在清针砂纸(2)上方,所述弹性软板(1)和清针砂纸(2)的侧面夹持在夹板(3)内。
3.根据权利要求2所述的一种半导体卷带封装测试用清针工装,其特征在于:所述弹性软板(1)和清针砂纸(2)的形状均为方形,弹性软板(1)的尺寸大于清针砂纸(2)的尺寸。
4.根据权利要求2所述的一种半导体卷带封装测试用清针工装,其特征在于:所述弹性软板(1)和清针砂纸(2)粘合连接。
5.根据权利要求1所述的一种半导体卷带封装测试用清针工装,其特征在于:所述握持部件还包括防脱落静电手环(6),所述防脱落静电手环(6)穿在把手(5)的端部。
6.根据权利要求1所述的一种半导体卷带封装测试用清针工装,其特征在于:所述清针部件、夹板(3)和连接板(4)处于同一平面。
7.根据权利要求5所述的一种半导体卷带封装测试用清针工装,其特征在于:所述连接板(4)与把手(5)之间的夹角为165°。
8.根据权利要求2所述的一种半导体卷带封装测试用清针工装,其特征在于:所述清针部件和握持部件均为非金属材质制成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造