[实用新型]一种半导体器件清洗控制系统有效
申请号: | 201922113773.1 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN210575870U | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 夏昊;包晶 | 申请(专利权)人: | 扬州晶新微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/02 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 黄启兵 |
地址: | 225000*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 清洗 控制系统 | ||
本实用新型属于半导体器件清洗技术领域,具体涉及一种半导体器件清洗控制系统。系统包括总开关、加热电路、开关电源,开关电源依次连接有开关组和排气阀组,排气阀组进气端连接有压空阀组件,排气阀组出气端连接有执行阀组,排气阀组控制执行阀组的开闭。用于解决传统清洗机控制系统维修保养成本高的问题;本实用新型使用的配件方便购买容易获取,成本更低;在后期使用过程中存在器件老化损坏等情况出现时,维护费用较少,更换较方便。
技术领域
本实用新型属于半导体器件清洗技术领域,具体涉及一种半导体器件清洗控制系统。
背景技术
在半导体器件芯片的制作的设备中,清洗机是一种不可缺少而用得最多、最广泛的设备。因为半导体芯片或晶圆片的每道工艺过程之前,都必须保持芯片或晶圆片的绝对清洁即零沾污,因此,在经过各种有机溶液、酸、碱性溶解液以及最终超纯净化水处理。
随着半导体器件的批量逐步提高,清洗机设备使用频数与工作周期的不断增加与超负荷运行,设备零件的磨损与老化日趋增加,需要进行更新更换迭代。然而在传统清洗机控制系统中的PLC模块、源程序无法导出与漏洞修缮等,损坏了的PLC模块无法得到有效的补充,最终导致设备无法恢复生产。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题在于克服现有技术的不足,提供一种半导体器件清洗控制系统,用于解决传统清洗机控制系统维修保养成本高的问题。
本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下:一种半导体器件清洗控制系统,包括总开关、加热电路、开关电源,所述开关电源依次连接有开关组和排气阀组,所述排气阀组进气端连接有压空阀组件,所述排气阀组出气端连接有执行阀组,所述排气阀组控制所述执行阀组的开闭。通过简单电路元器件搭建清洗机控制系统,实现控制半导体器件的清洗工序,同时后期保养维护成本较低。
进一步地,所述加热电路包括若干并联的加热回路,所述加热回路包括依次串联的加热空开、加热丝。
进一步地,所述加热电路还包括若干温控电路,所述温控电路包括依次串联的温控器、加热开关和固态继电器,所述温控电路通过所述固态继电器与所述加热回路连接,所述温控器连接有温度传感器,所述温控器连接有控制其电源通断的温控空开。通过温控电路实现对加热回路的智能温度控制,可以根据设定温度实现自动加热和切断加热的功能。
进一步地,所述排气阀组包括并联的第一电磁阀组、第二电磁阀组和第三电磁阀组,所述执行阀组包括气动阀组、第一药液阀组和第二药液阀组,所述第一电磁阀组连接所述气动阀组,所述第二电磁阀组连接所述第一药液阀组,所述第三电磁阀组连接所述第二药液阀组,所述第一药液阀组的出液端与所述第二药液阀组的进液端连接。通过排气阀组与执行阀组的对应连接,实现清洗过程中的清洗和排液等功能。
进一步地,所述气动阀组包括氮气阀组件和若干并联的气动阀,所述氮气阀组件连接至所述气动阀进气端。
进一步地,所述开关组包括进气液开关组和排液开关组,所述进气液开关组与所述第一电磁阀组和第二电磁阀组连接,所述排液开关组与所述第三电磁阀组连接。
基于一种半导体器件清洗控制系统,本实用新型还公开一种半导体器件清洗控制方法,包括以下步骤:
S1、接入电源,接入压缩空气,接入动力氮气,接入动力纯水至第一药液阀组进液端,打扫清洗槽,做好清洗前的准备工作;
S2、放入待清洗器件,打开总开关,打开加热开关,通过加热电路加热酸槽内酸液,当酸液温度达到指定温度后,开始加热计时;
S3、达到规定酸洗时间后,将酸洗后的器件取出放入水槽,打开进气液开关组,通过排气阀组动作控制执行阀组进行通氮气和纯水冲洗操作,当纯水开始溢出后,开始清洗计时;
S4、达到规定清洗时间后,关闭进气液开关组,停止通氮气和纯水,打开排液开关组,排出槽内纯水。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造