[实用新型]用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置有效

专利信息
申请号: 201922188906.1 申请日: 2019-12-06
公开(公告)号: CN212095894U 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: W·布拉哈 申请(专利权)人: 硅电子股份公司
主分类号: B24B41/04 分类号: B24B41/04;B24B41/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 蔡洪贵
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 半导体 晶片 磨削 改进 装置
【权利要求书】:

1.一种用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,包括

磨削主轴(4)和框架元件(3),

所述框架元件(3)包括定位成彼此相对的内部的第一凹槽(9a)和第二凹槽(9b),并且

所述磨削主轴(4)能在所述框架元件(3)中轴向地被引导,其特征在于

所述第二凹槽(9b)是楔形的,使得楔(1)能沿轴向方向被插入到所述磨削主轴(4)和第二凹槽(9b)之间,其中

所述楔(1)的轴向位置决定了在磨削主轴(4)和框架元件(3)之间的游隙。

2.根据权利要求1所述的用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,其特征在于,

所述楔(1)通过螺旋装置(5)被附接到所述框架元件(3)的端面,使得能以重复精度设置轴向位置。

3.根据权利要求1或2所述的用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,其特征在于,框架元件(3)的形成第一凹槽(9a)的表面包括滑动涂层,磨削主轴(4)的一侧能在所述滑动涂层上滑动。

4.根据权利要求1或2所述的用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,其特征在于,所述楔(1)在面向所述磨削主轴(4)的侧部上包括滑动涂层。

5.根据权利要求1或2所述的用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,其特征在于,

使用的滑动表面包括来自如下材料列表中的材料:灰口铸铁、烧结金属、塑料。

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