[实用新型]用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置有效
申请号: | 201922188906.1 | 申请日: | 2019-12-06 |
公开(公告)号: | CN212095894U | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
发明(设计)人: | W·布拉哈 | 申请(专利权)人: | 硅电子股份公司 |
主分类号: | B24B41/04 | 分类号: | B24B41/04;B24B41/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 蔡洪贵 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 半导体 晶片 磨削 改进 装置 | ||
1.一种用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,包括
磨削主轴(4)和框架元件(3),
所述框架元件(3)包括定位成彼此相对的内部的第一凹槽(9a)和第二凹槽(9b),并且
所述磨削主轴(4)能在所述框架元件(3)中轴向地被引导,其特征在于
所述第二凹槽(9b)是楔形的,使得楔(1)能沿轴向方向被插入到所述磨削主轴(4)和第二凹槽(9b)之间,其中
所述楔(1)的轴向位置决定了在磨削主轴(4)和框架元件(3)之间的游隙。
2.根据权利要求1所述的用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,其特征在于,
所述楔(1)通过螺旋装置(5)被附接到所述框架元件(3)的端面,使得能以重复精度设置轴向位置。
3.根据权利要求1或2所述的用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,其特征在于,框架元件(3)的形成第一凹槽(9a)的表面包括滑动涂层,磨削主轴(4)的一侧能在所述滑动涂层上滑动。
4.根据权利要求1或2所述的用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,其特征在于,所述楔(1)在面向所述磨削主轴(4)的侧部上包括滑动涂层。
5.根据权利要求1或2所述的用于半导体晶片的盘式磨削的改进装置,其特征在于,
使用的滑动表面包括来自如下材料列表中的材料:灰口铸铁、烧结金属、塑料。
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