[实用新型]一种漏电互补的ESD结构有效

专利信息
申请号: 201922241699.1 申请日: 2019-12-15
公开(公告)号: CN210607251U 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 吕强;孙忠民;郭靖;赵红武 申请(专利权)人: 西安硅宇微电子有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H03K17/041
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710000 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 漏电 互补 esd 结构
【权利要求书】:

1.一种漏电互补的ESD结构,其特征在于,包括两组ESD电路,所述两组ESD电路分为第一ESD电路和第二ESD电路,所述第一ESD电路和第二ESD电路分别设置在输出开关的两端,其中:

所述输出开关包括相互并联的第一PMOS管(P1)和第一NMOS管(N1),并联后两侧的公共端分为第一端口(S)和第二端口(D);

ESD电路包括第二NMOS管(N2)和第三NMOS管(N3);

所述第一ESD电路中的第二NMOS管(N2)设置在第一端口(S)与VSS电源之间,所述第一ESD电路中的第三NMOS管(N3)设置在第一端口(S)与VDD电源之间;

所述第二ESD电路中的第二NMOS管(N2)设置在第二端口(D)与VSS电源之间,所述第二ESD电路中的第三NMOS管(N3)设置在第二端口(D)与VDD电源之间。

2.根据权利要求1所述的漏电互补的ESD结构,其特征在于,所述第一ESD电路中第二NMOS管(N2)的源极连接VSS电源,第二NMOS管(N2)的漏极连接第一端口(S),所述第一ESD电路中第三NMOS管(N3)的源极连接第一端口(S),第一ESD电路中第三NMOS管(N3)的漏极连接VDD电源。

3.根据权利要求1所述的漏电互补的ESD结构,其特征在于,所述第二ESD电路中第二NMOS管(N2)的源极连接VSS电源,第二NMOS管(N2)的漏极连接第二端口(D),所述第二ESD电路中第三NMOS管(N3)的源极连接第二端口(D),第二ESD电路中第三NMOS管(N3)的漏极连接VDD电源。

4.根据权利要求1所述的漏电互补的ESD结构,其特征在于,所述第二NMOS管(N2)和第三NMOS管(N3)为LDNMOS管。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安硅宇微电子有限公司,未经西安硅宇微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201922241699.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top